[发明专利]一种存储器的仿真验证方法和装置在审
| 申请号： | 202111666794.1 | 申请日： | 2021-12-31 |
| 公开（公告）号： | CN114356736A | 公开（公告）日： | 2022-04-15 |
| 发明（设计）人： | 郭燕萍;韩郑生;闫珍珍;许婷;卜建辉;刘海南;王成成;高立博;赵发展;罗家俊 | 申请（专利权）人： | 中国科学院微电子研究所 |
| 主分类号： | G06F11/34 | 分类号： | G06F11/34 |
| 代理公司： | 北京华沛德权律师事务所 11302 | 代理人： | 曹洪进 |
| 地址： | 100029 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种存储器的仿真验证方法和装置，仿真验证方法包括：获取存储器关键路径的仿真存储点，其中，所述关键路径为所述存储器与存取端口之间的最远路径；验证所述存储器的读写功能是否正确；若是，则提取所述仿真存储点的时序参数进行仿真验证，其中，所述时序参数由所述仿真存储点验证读写功能的过程中生成。本发明通过验证仿真存储点的读写功能正确后，再提取仿真存储点的时序参数进行仿真验证，保证了读写功能验证正确和时序参数的准确性，可以在特征化参数仿真的同时验证读写功能，应用于存储编译器设计中，可以大大减少仿真验证的工作量，有效提高了存储编译器的设计效率。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 存储器 仿真 验证 方法 装置 | ||
【主权项】：
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