[发明专利]质量分析装置在审
| 申请号： | 202111662819.0 | 申请日： | 2021-12-31 |
| 公开（公告）号： | CN114813800A | 公开（公告）日： | 2022-07-29 |
| 发明（设计）人： | 古桥治;谷口纯一 | 申请（专利权）人： | 株式会社岛津制作所 |
| 主分类号： | G01N23/20008 | 分类号： | G01N23/20008;G01N23/20 |
| 代理公司： | 上海立群专利代理事务所(普通合伙) 31291 | 代理人： | 杨楷;毛立群 |
| 地址： | 日本国*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本发明提供一种可通过一次性测量执行质量分析与用于识别异构体的电子束衍射测量这两者的装置。此外，提供一种能够在这样的装置中比以往更高效地进行电子束衍射测量的技术。质量分析装置(1)具备：离子化部(201)，从试样生成离子；质量分离部(231、235)，对由离子化部生成的离子进行质量分离；离子检测器(237)，检测由质量分离部质量分离的离子；离子捕获部(31)，捕获由质量分离部质量分离的离子；电子束检测部(32)，检测由被离子捕获部捕获的离子衍射的电子束。 | ||
| 搜索关键词： | 质量 分析 装置 | ||
【主权项】：
暂无信息
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