[发明专利]质量分析装置

权利要求书

1.一种质量分析装置，其特征在于，具备：

离子化部，从试样生成离子；

质量分离部，对由所述离子化部生成的离子进行质量分离；

离子检测器，检测由所述质量分离部质量分离的离子；

离子捕获部，捕获由所述质量分离部质量分离的离子；

副测量部，测量被所述离子捕获部捕获的离子的质荷比以外的物理量。

2.如权利要求1所述的质量分析装置，其特征在于，

所述质量分离部具备：

前级质量分离部，从由所述离子化部生成的离子中筛选具有特定的质荷比的离子作为前体离子；

解离部，使所述前体离子解离从而生成产物离子；

后级质量分离部，从所述产物离子中筛选具有特定的质荷比的离子。

3.如权利要求1所述的质量分析装置，其特征在于，

进一步具备偏转部，设置在所述质量分离部与所述离子检测器之间，使从所述质量分离部射出的离子的飞行方向偏转，

所述离子捕获部设置在飞行方向被所述偏转部偏转后的离子的飞行路径上。

4.如权利要求1所述的质量分析装置，其特征在于，

进一步具备电压施加部，施加用于将离子捕获至所述离子捕获部的矩形波电压。

5.如权利要求1所述的质量分析装置，其特征在于，

所述副测量部具备：

照射部，对被捕获至所述离子捕获部的离子照射电磁波或者粒子束；

检测部，检测从所述离子捕获部射出的电磁波或者粒子。

6.如权利要求1所述的质量分析装置，其特征在于，

进而具备电压施加部，对所述离子捕获部施加用于捕获离子的矩形波电压，

所述副测量部具备：

照射部，对被捕获至所述离子捕获部的离子照射电磁波或者粒子束；

检测部，检测从所述离子捕获部射出的电磁波或者粒子，

在从所述电压施加部向所述离子捕获部施加规定的相位的矩形波电压时，所述照射部将脉冲状的电磁波或者粒子束照射至所述离子捕获部的内部。

7.如权利要求5所述的质量分析装置，其特征在于，

所述照射部是对所述离子捕获部照射电子束的电子束照射部，

所述检测部检测由所述离子衍射的电子束。

8.如权利要求7所述的质量分析装置，其特征在于，进一步具备：

分子结构候选输入受理部，受理分子结构候选的信息的输入；

第1分子结构推定部，对通过测量试样而得到的电子束衍射像与针对该分子结构候选预先准备的电子束衍射像进行比较，从而推定该试样所含的分子的分子结构。

9.如权利要求8所述的质量分析装置，其特征在于，

进一步具备电子束衍射像推定部，利用基于由所述分子结构候选输入受理部受理的分子结构的理论计算来推定电子束衍射像。

10.如权利要求7所述的质量分析装置，其特征在于，

所述电子束照射部照射的电子束的能量可变。

11.如权利要求10所述的质量分析装置，其特征在于，

进一步具备第2分子结构推定部，基于通过不同能量的电子束的照射而得到的电子束衍射像，推定试样分子的结构。

12.如权利要求7所述的质量分析装置，其特征在于，

进一步具备第3分子结构推定部，基于通过测量将预先决定的种类的原子键合于试样分子的特定位置的化合物而得到的电子束衍射像，推定所述试样分子的分子结构。

13.如权利要求12所述的质量分析装置，其特征在于，

进一步具备分离机构，在所述质量分离部中将离子质量分离之前，分离试样所含的化合物。

14.如权利要求13所述的质量分析装置，其特征在于，

所述分离机构是色谱装置以及/或者离子迁移率分析装置。