[发明专利]用于石英晶体振荡器芯片的性能评价测试装置及方法在审
| 申请号： | 202111659864.0 | 申请日： | 2021-12-30 |
| 公开（公告）号： | CN114397486A | 公开（公告）日： | 2022-04-26 |
| 发明（设计）人： | 牛磊;郑文强;段友峰;王莉;李国强;王巍丹 | 申请（专利权）人： | 北京无线电计量测试研究所 |
| 主分类号： | G01R1/04 | 分类号： | G01R1/04;G01R31/28 |
| 代理公司： | 中国航天科工集团公司专利中心 11024 | 代理人： | 葛鹏 |
| 地址： | 100854 北*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种用于石英晶体振荡器芯片的性能评价测试装置及方法。该测试装置包括测试设备、晶体谐振器以及测试座，其中，测试座上设置有第一连接接头、第二连接接头以及多个测试触点，多个测试触点用于与待测芯片的多个管脚接头一一对应地接触，且多个测试触点中的一部分与第一连接接头电连接，第一连接接头用于与测试设备电连接，多个测试触点中的另一部分与第二连接接头连接，第二连接接头用于与晶体谐振器连接。本发明可以解决现有测试方法只能测试固定频率和一种型号的芯片的问题，其具有测试无损伤、产品适配性好、应用范围广、测试精度及测试效率高等特点和优势。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 石英 晶体振荡器 芯片 性能 评价 测试 装置 方法 | ||
【主权项】：
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