[发明专利]一种固态电解质薄膜离子电导率的测试方法在审
| 申请号： | 202111609916.3 | 申请日： | 2021-12-27 |
| 公开（公告）号： | CN114384325A | 公开（公告）日： | 2022-04-22 |
| 发明（设计）人： | 汤永康;沈洪雪;甘治平;李刚 | 申请（专利权）人： | 中建材蚌埠玻璃工业设计研究院有限公司 |
| 主分类号： | G01R27/02 | 分类号： | G01R27/02 |
| 代理公司： | 安徽省蚌埠博源专利商标事务所(普通合伙) 34113 | 代理人： | 杨晋弘 |
| 地址： | 233010 安徽*** | 国省代码： | 安徽;34 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种固态电解质薄膜离子电导率的测试方法，包括：在金属基底上制备固态电解质薄膜，在金属基底上留出空白空间作为测试电极，在固态电解质薄膜上制备顶层金属薄膜作为测试对电极；或在非金属基底上制备底层金属薄膜，在底层金属薄膜上制备固态电解质薄膜，底层金属薄膜留出空白空间作为测试电极，于固态电解质薄膜上制备顶层金属薄膜作为测试对电极。利用电化学工作站分别以电解质薄膜的上下层金属作为电极与对电极，采用交流阻抗A.C Impedance的测试方法，得到Z’阻抗实部与‑Z’’阻抗虚部的曲线，通过计算得到电解质薄膜的离子电导率。本发明具有测试方法简单、测试效率高即精度高的优点。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 固态 电解质 薄膜 离子 电导率 测试 方法 | ||
【主权项】：
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