[发明专利]读数头检修方法、框架标定工装及读数头标定工装在审
| 申请号： | 202111597043.9 | 申请日： | 2021-12-24 |
| 公开（公告）号： | CN114279337A | 公开（公告）日： | 2022-04-05 |
| 发明（设计）人： | 付大为;焦健;解昊;高立冬 | 申请（专利权）人： | 北京华卓精科科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G01B11/02 | 分类号： | G01B11/02;G01B21/00 |
| 代理公司： | 北京荟英捷创知识产权代理事务所(普通合伙) 11726 | 代理人： | 王献茹 |
| 地址： | 100176 北京市大兴区北京经济技术开发区科创*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明涉及光栅测量领域，具体而言，涉及一种读数头检修方法、框架标定工装及读数头标定工装。读数头检修方法包括：获取各个读数头的第一参数，根据第一参数，判断读数头是否损坏；若判断结果为否，则获取读数头的第二参数，若第二参数不满足要求，则判断为读数头异常，对读数头进行调试，直到第二参数达到预定值以上；若判断结果为是，则更换读数头并将更换后的读数头的第二参数调试到预定值以上。框架标定工装及读数头标定工装用于实施上述读数头检修方法。本发明提供的读数头检修方法、框架标定工装及读数头标定工装，可在现场快速确定读数头发生故障的原因，无需返厂检测，从而，可缩短维护维修周期，成本较低。 | ||
| 搜索关键词： | 读数 检修 方法 框架 标定 工装 | ||
【主权项】：
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