[发明专利]读数头检修方法、框架标定工装及读数头标定工装在审
申请号: | 202111597043.9 | 申请日: | 2021-12-24 |
公开(公告)号: | CN114279337A | 公开(公告)日: | 2022-04-05 |
发明(设计)人: | 付大为;焦健;解昊;高立冬 | 申请(专利权)人: | 北京华卓精科科技股份有限公司 |
主分类号: | G01B11/02 | 分类号: | G01B11/02;G01B21/00 |
代理公司: | 北京荟英捷创知识产权代理事务所(普通合伙) 11726 | 代理人: | 王献茹 |
地址: | 100176 北京市大兴区北京经济技术开发区科创*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 读数 检修 方法 框架 标定 工装 | ||
1.一种读数头检修方法,其特征在于,包括:
获取读数头(120)的第一参数,根据所述第一参数,判断读数头(120)是否损坏;
若判断结果为否,则获取读数头(120)的第二参数,若所述第二参数在读数头工作转角范围内小于第一阈值,或所述第二参数在读数头(120)转动到极限位置时小于第二阈值,则均判断为读数头(120)异常,对读数头(120)进行调试,直到所述第二参数达到预定值以上,所述第一阈值大于所述第二阈值;否则,判断为读数头(120)正常;
若判断结果为是,则更换读数头(120)并对更换后的读数头(120)进行调试,直到所述第二参数达到预定值以上。
2.根据权利要求1所述的读数头检修方法,其特征在于,所述对读数头(120)进行调试,直到所述第二参数达到预定值以上的步骤包括:
将工件台(100)从整机框架转移至框架标定工装(200)处,利用框架标定工装(200)上的第一平面光栅(220)为读数头(120)的信号提供参考基准;
调试读数头(120),直到所述第二参数达到预定值以上;
将工件台(100)复位。
3.根据权利要求1所述的读数头检修方法,其特征在于,所述更换读数头(120)并对更换后的读数头(120)进行调试,直到所述第二参数达到预定值以上的步骤包括:
当损坏的读数头(120)为一个或相邻的两个时,先更换损坏的读数头(120),然后,将工件台(100)从整机框架转移至框架标定工装(200)处,利用框架标定工装(200)上的第一平面光栅(220)为读数头(120)的信号提供参考基准;
调试读数头(120),直到所述第二参数达到所述预定值以上;
将工件台(100)复位。
4.根据权利要求1所述的读数头检修方法,其特征在于,所述更换读数头(120)并对更换后的读数头(120)进行调试,直到所述第二参数达到预定值以上的步骤包括:
当损坏的读数头(120)为三个、四个或相对的两个时,先拆下损坏的读数头(120),然后,将工件台(100)转移到维修工位;
将读数头标定工装(300)安装到工件台(100)的缺失读数头(120)的部位;
利用读数头标定工装(300)上的第二平面光栅(320)为读数头(120)的信号提供参考基准;
安装并调试读数头(120),直到所述第二参数达到所述预定值以上;
拆下读数头标定工装(300);
将工件台(100)复位。
5.根据权利要求4所述的读数头检修方法,其特征在于,所述将读数头标定工装(300)安装到工件台(100)的缺失读数头(120)的部位的步骤,与所述利用读数头标定工装(300)上的第二平面光栅(320)为读数头(120)的信号提供参考基准的步骤之间,还包括:
利用三坐标测量仪测量读数头标定工装(300)的位置精度,并依据三坐标测量仪的测量结果,调整读数头标定工装(300),直到三坐标测量仪的测量结果满足安装要求。
6.根据权利要求1-5任一项所述的读数头检修方法,其特征在于,所述第一参数为光功率,所述第二参数为交流电信号与直流电信号的比值。
7.根据权利要求6所述的读数头检修方法,其特征在于,所述判断结果为否的步骤包括:所述光功率大于零;
和/或,所述判断结果为是的步骤包括:所述光功率等于零。
8.根据权利要求6所述的读数头检修方法,其特征在于,所述第一阈值为50%;
和/或,所述第二阈值为10%;
和/或,所述预定值在读数头工作转角范围内大于70%,优选为90%。
9.一种框架标定工装,其特征在于,包括支撑框架(210)和第一平面光栅(220),所述第一平面光栅(220)安装于所述支撑框架(210),且所述第一平面光栅(220)用于与工件台(100)的读数头(120)的上端面配合。
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