[发明专利]一种基于X-ray imaging与Sobel-SCN的GIS缺陷检测方法在审

专利信息
申请号: 202111537605.0 申请日: 2021-12-15
公开(公告)号: CN114581364A 公开(公告)日: 2022-06-03
发明(设计)人: 钱锡颖;岳龙;蒋科若;许欣;丁北平;严凌;陆晓波;沈涛;赵鲁臻;王泓学;赖靖胤;李子楠;权超 申请(专利权)人: 宁波送变电建设有限公司;国网浙江省电力有限公司宁波供电公司
主分类号: G06T7/00 分类号: G06T7/00;G06T7/13;G06T7/155;G06T7/12;G06T7/66;G06T5/40;G06T5/30;G06T5/00;G06F17/16;G06N3/04
代理公司: 北京众合诚成知识产权代理有限公司 11246 代理人: 陶韬
地址: 315000 浙江*** 国省代码: 浙江;33
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摘要: 发明公开了一种基于X‑ray imaging与Sobel‑SCN的GIS缺陷检测方法,包括:S1、获取GIS设备X射线图像(X‑ray imaging);S2、对所述图像进行旋转、去噪、增强、二值化预处理;S4、基于Sobel算法提取图像边缘信息;S5、基于数学形态学完善图像边缘轮廓信息;S6、分割图像、标定分割图像重心;S7、构造特征矢量集;S8、采用随机配置网络(Stochastic Configuration Networks,SCN),将归一化后的特征矢量集作为输入,对所述特征矢量集进行分类,实现GIS缺陷识别。本发明将X射线图像处理技术与SCN算法应用与GIS缺陷检测中,替代巡检人员判别GIS是否存在缺陷,可以提高GIS缺陷检测的质量与效率。
搜索关键词: 一种 基于 ray imaging sobel scn gis 缺陷 检测 方法
【主权项】:
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