[发明专利]一种CVD单晶金刚石位错密度的检测方法在审

专利信息
申请号: 202111523327.3 申请日: 2021-12-14
公开(公告)号: CN114411112A 公开(公告)日: 2022-04-29
发明(设计)人: 徐帅;吴晓磊;刘晖;周文涛;曹博伦;闫建明;董聚祥 申请(专利权)人: 郑州磨料磨具磨削研究所有限公司
主分类号: C23C16/00 分类号: C23C16/00;G01N1/28;G01N1/32;G01N21/88;G16C20/70
代理公司: 郑州联科专利事务所(普通合伙) 41104 代理人: 杨海霞
地址: 450001 河*** 国省代码: 河南;41
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摘要: 发明提供一种CVD单晶金刚石位错密度的检测方法,包括单晶金刚石待测表面的研磨抛光和清洗,并通过化学腐蚀去除晶体表面机械损伤层,然后采用离子刻蚀的方法在单晶金刚石的待测表面形成位错蚀坑,对待测表面取样并对表面形貌进行检测,统计取样面积内位错蚀坑数量,最后计算得到单晶金刚石的位错密度,采用该方法可准确实现CVD单晶金刚石{100}或{111}晶面位错密度的检测。
搜索关键词: 一种 cvd 金刚石 密度 检测 方法
【主权项】:
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