[发明专利]一种芯片测试用自动化测试装置

摘要

本发明公开了一种芯片测试用自动化测试装置，其包括：测试工作台；芯片检测装置，安装在所述测试工作台的上端面一侧；第一输送带，嵌入安装在所述测试工作台的上端面远离所述芯片检测装置的一侧，所述第一输送带上均匀排列有多个待检测芯片；第二输送带，所述第二输送带用于对检测后不合格芯片进行输送剔除；转送组件，可相对转动的竖直设置在所述测试工作台的上端面中部，所述转送组件用于将待检测芯片从第一输送带处转送至芯片检测装置进行检测，当检测合格时再进行转送归位，而当检测不合格时则将芯片转送至第二输送带上；以及取放组件，对称设置在所述转送组件的两侧位置。