[发明专利]一种芯片测试用自动化测试装置

权利要求书

1.一种芯片测试用自动化测试装置，其特征在于：其包括：

测试工作台(1)；

芯片检测装置(2)，安装在所述测试工作台(1)的上端面一侧；

第一输送带(4)，嵌入安装在所述测试工作台(1)的上端面远离所述芯片检测装置的一侧，所述第一输送带(4)上均匀排列有多个待检测芯片；

第二输送带(5)，嵌入安装在所述测试工作台(1)的上端面靠近第一输送带(4)的一侧，所述第二输送带(5)用于对检测后不合格芯片进行输送剔除；

转送组件(3)，可相对转动的竖直设置在所述测试工作台(1)的上端面中部，所述转送组件(3)用于将待检测芯片从第一输送带(4)处转送至芯片检测装置(2)进行检测，当检测合格时再进行转送归位，而当检测不合格时则将芯片转送至第二输送带(5)上；以及

取放组件(6)，对称设置在所述转送组件(3)的两侧位置，用于对待检测芯片进行取拿；

所述取放组件(6)包括：

上联座(61)；

伸缩导套，竖直固定在所述上联座(61)的上端面，所述伸缩导套的一端与所述转送组件(3)相连接；

内弹簧(62)，竖直排列设置在所述上联座(61)与转送组件(3)之间；

内盘体(63)，设置在所述上联座(61)下方；

吸附固定装置(8)，可相对偏转的设置在所述内盘体(63)中，所述吸附固定装置(8)用于对待检测芯片进行吸附夹取；以及

微调校准装置(7)，设置在所述内盘体(63)与所述上联座(61)之间，用于对所述内盘体(63)进行水平位移微调，使得待检测芯片能准确定位至芯片检测装置(2)中的卡槽内；

所述吸附固定装置(8)包括：

左承接架(81)，设置在所述内盘体(63)下方；

右承接架(82)，通过导杆(86)竖直限位滑动设置在所述内盘体(63)下方远离所述左承接架(81)的一侧；

安装盘件(83)，可相对转动的设置在所述左承接架(81)上；

吸附件(84)，为均匀排列设置的多个，各所述吸附件(84)竖直穿接在安装盘件(83)内，所述内盘体(63)上设置有微型抽气泵，所述微型抽气泵的输出端通过软管与各所述吸附件(84)相连通；

支撑筋(85)，铰接在所述安装盘件(83)的一侧，所述支撑筋(85)的一端与所述右承接架(82)相连接；以及

电动伸缩杆(87)，竖直对称设置在所述右承接架(82)上的导杆(86)两侧位置，所述电动伸缩杆(87)的一端与内盘体(63)相连接固定；

在芯片初步取拿中，此时安装盘件处于偏转调节中，使得各吸附件处于竖直状态，并对待检测芯片表面进行均匀吸附式固定，在完成取拿后，安装盘件通过电动伸缩杆的伸缩作用进行偏转调整，并呈局部微斜，使得待检测芯片同步处于倾斜状态下，而在将待检测芯片放至于检测卡槽中时，能够优先通过其倾斜处的低位边缘与检测卡槽上的倒 L 形卡扣相抵靠接触，再由安装盘件在偏转作用下将其水平放置，从而有效避免位移划痕的产生。

2.根据权利要求1所述的一种芯片测试用自动化测试装置，其特征在于：所述转送组件(3)包括：

转动轴(31)，通过轴承可相对转动的竖直设置在所述测试工作台(1)内；

内置电机(32)，安装在所述测试工作台(1)内，所述内置电机(32)的输出端通过传接带与所述转动轴(31)连接传动，并驱动所述转动轴(31)定向圆周旋转；

液压伸缩杆(33)，同轴固定在所述转动轴(31)上；

安装架(34)，横向固定在所述液压伸缩杆(33)的输出端，所述安装架(34)上对称水平设置有滑动导杆(35)，所述滑动导杆(35)上通过外设伸缩缸驱动作用滑动连接有连接架；

驱动机体(36)，通过限位杆横向滑动设置在所述连接架上，所述驱动机体(36)上位于限位杆下方水平转动设置有螺纹连接杆(37)，所述螺纹连接杆(37)通过螺纹啮合作用与滑动贯穿设置在所述连接架上；以及

固定架(38)，设置在所述驱动机体(36)下方。

3.根据权利要求1所述的一种芯片测试用自动化测试装置，其特征在于：所述支撑筋(85)被构造成两段式可收缩结构，所述支撑筋(85)内还套接设置有复位弹簧。