[发明专利]一种芯片测试用自动化测试装置有效
申请号: | 202111505395.7 | 申请日: | 2021-12-10 |
公开(公告)号: | CN114200174B | 公开(公告)日: | 2023-07-07 |
发明(设计)人: | 刘湘君;姜源 | 申请(专利权)人: | 珠海城市职业技术学院 |
主分类号: | G01R1/04 | 分类号: | G01R1/04;G01R31/28 |
代理公司: | 苏州拓鸿知识产权代理有限公司 32664 | 代理人: | 左勇 |
地址: | 519090 广东省珠海市金湾区西湖*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 芯片 测试 自动化 装置 | ||
本发明公开了一种芯片测试用自动化测试装置,其包括:测试工作台;芯片检测装置,安装在所述测试工作台的上端面一侧;第一输送带,嵌入安装在所述测试工作台的上端面远离所述芯片检测装置的一侧,所述第一输送带上均匀排列有多个待检测芯片;第二输送带,所述第二输送带用于对检测后不合格芯片进行输送剔除;转送组件,可相对转动的竖直设置在所述测试工作台的上端面中部,所述转送组件用于将待检测芯片从第一输送带处转送至芯片检测装置进行检测,当检测合格时再进行转送归位,而当检测不合格时则将芯片转送至第二输送带上;以及取放组件,对称设置在所述转送组件的两侧位置。
技术领域
本发明属于芯片检测设备技术领域,具体是一种芯片测试用自动化测试装置。
背景技术
随着科技的发展,越来越多的电路与器件趋向集成化、芯片化。芯片生产需经过几百步的工艺,任何一步的错误都可能导致器件失效。但现有的检测设备制作成本太高,难以满足批量测试。但是常见的芯片测试装置在芯片初步转移定位时,测试探针接触芯片后形成固定支点,由于平台过于平滑,使得芯片会发生偏移,不仅影响测试效率,同时针尖容易划伤芯片表面,从而大大影响测试的准确性;且,尤其在微小芯片摆正中,其难以精准卡入检测卡槽中,导致芯片易出现接触不良,后期仍需工作人员主动摆正复位。因此,本领域技术人员提供了一种芯片测试用自动化测试装置,以解决上述背景技术中提出的问题。
发明内容
为实现上述目的,本发明提供如下技术方案:一种芯片测试用自动化测试装置,其包括:
测试工作台;
芯片检测装置,安装在所述测试工作台的上端面一侧;
第一输送带,嵌入安装在所述测试工作台的上端面远离所述芯片检测装置的一侧,所述第一输送带上均匀排列有多个待检测芯片;
第二输送带,嵌入安装在所述测试工作台的上端面靠近第一输送带的一侧,所述第二输送带用于对检测后不合格芯片进行输送剔除;
转送组件,可相对转动的竖直设置在所述测试工作台的上端面中部,所述转送组件用于将待检测芯片从第一输送带处转送至芯片检测装置进行检测,当检测合格时再进行转送归位,而当检测不合格时则将芯片转送至第二输送带上;以及
取放组件,对称设置在所述转送组件的两侧位置,用于对待检测芯片进行取拿。
进一步,作为优选,所述转送组件包括:
转动轴,通过轴承可相对转动的竖直设置在所述检测工作台内;
内置电机,安装在所述测试工作台内,所述内置电机的输出端通过传接带与所述转动轴连接传动,并驱动所述转动轴定向圆周旋转;
液压伸缩杆,同轴固定在所述转动轴上;
安装架,横向固定在所述液压伸缩杆的输出端,所述安装架上对称水平设置有滑动导杆,所述滑动导杆上通过外设伸缩缸驱动作用滑动连接有连接架;
驱动机体,通过限位杆横向滑动设置在所述连接架上,所述驱动机体上位于限位杆下方水平转动设置有螺纹连接杆,所述螺纹连接杆通过螺纹啮合作用与滑动贯穿设置在所述连接架上;以及
固定架,设置在所述驱动机体下方。
进一步,作为优选,所述取放组件包括:
上联座;
伸缩导套,竖直固定在所述上联座的上端面,所述伸缩导套的一端与所述转送组件相连接;
内弹簧,竖直排列设置在所述上联座与转送组件之间;
内盘体,设置在所述上联座下方;
吸附固定装置,可相对偏转的设置在所述内盘体中,所述吸附固定装置用于对待检测芯片进行吸附夹取;以及
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