[发明专利]一种ZMD31050芯片的调试方法和批量调试系统有效
| 申请号： | 202111488861.5 | 申请日： | 2021-12-07 |
| 公开（公告）号： | CN114265376B | 公开（公告）日： | 2023-09-01 |
| 发明（设计）人： | 金玉轩;何宇;刘松;谢锋;陆运章 | 申请（专利权）人： | 中国电子科技集团公司第四十八研究所 |
| 主分类号： | G05B19/418 | 分类号： | G05B19/418 |
| 代理公司： | 湖南兆弘专利事务所(普通合伙) 43008 | 代理人： | 廖元宝 |
| 地址： | 410111 湖南*** | 国省代码： | 湖南;43 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种ZMD31050芯片的调试方法和批量调试系统，此方法包括步骤：首先使得ZMD31050芯片进入CM工作模式，采集ZMD31050芯片的端口2#在不同温度环境下的数字自动零补偿值；将上述不同温度环境下的数字自动零补偿值与不同点压力信号采集值系数作为动态链接库函数的输入，得到用于计算校准公式的系数；根据上述用于计算校准公式的系数与相关指令，得到当前被调试芯片的校验位；将用于计算校准公式的系数、校验位与相关发送指令来更新ZMD31050芯片的RAM中配置，使得ZMD31050芯片在NOM模式下的电压输出值发生改变，从而对ZMD31050芯片进行调试。本发明具有自动化程度高、批量调试且调试效率和精度高等优点。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 zmd31050 芯片 调试 方法 批量 系统 | ||
【主权项】：
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