[发明专利]一种ZMD31050芯片的调试方法和批量调试系统

说明书

本发明公开了一种ZMD31050芯片的调试方法和批量调试系统，此方法包括步骤：首先使得ZMD31050芯片进入CM工作模式，采集ZMD31050芯片的端口2#在不同温度环境下的数字自动零补偿值；将上述不同温度环境下的数字自动零补偿值与不同点压力信号采集值系数作为动态链接库函数的输入，得到用于计算校准公式的系数；根据上述用于计算校准公式的系数与相关指令，得到当前被调试芯片的校验位；将用于计算校准公式的系数、校验位与相关发送指令来更新ZMD31050芯片的RAM中配置，使得ZMD31050芯片在NOM模式下的电压输出值发生改变，从而对ZMD31050芯片进行调试。本发明具有自动化程度高、批量调试且调试效率和精度高等优点。

技术领域

本发明主要涉及芯片调试技术领域，具体涉及一种ZMD31050芯片的调试方法和批量调试系统。

背景技术

近年来，随着电子技术和信息技术的飞速发展，各类传感器已经深入到科研和工程技术的各个领域中。因此选择高性能、具有数字接口的信号调理器，将传感器信号转化为数字信号进行传输显示，解决工控现场干扰的影响，显得尤为关键。而ZMD31050是一款高集成、高精度桥式传感器信号处理控制电路，能够将传感器信号转变为数字信号进行输出，且外围电路简单，具有能耗低，安全可靠等特点。ZMD31050芯片常用于高性能数字传感器产品开发，包括汽车传感器、工业用传感器和普通传感器等，该芯片是高精度放大和传感校准特性的桥式传感和温度传感信号的控制电路。特别适合用于压力、扭矩、转矩、加速度、角度、位移和旋转传感器中，已广泛设计用于工业、医疗和民用消费领域。

ZMD31050芯片想要输出精确的信号则需要对其进行精确调试，当前的调试方法是利用ZMD公司自带的ZMD31050调试软件人工完成调试。这个调试方法的缺点是：

1、调试结果不精确：ZMD31050芯片的人工调试过程中需要人为计算，而精确的计算过程相对于人工极其复杂，因此人工调试只是根据人为经验进行粗略的计算过程。这导致ZMD31050芯片调试的结果往往只在正常范围的边缘，甚至当芯片性能较差时会出现调试结果不在正常范围的情况；

2、无法完成大批量调试：人工调试过程繁琐复杂，并且在调试过程中需要一对一的人为计算，导致人工进行大批量芯片调试十分困难；

3、调试过程效率低：调试过程需要大量的人工参与，导致ZMD31050芯片调试过程只能在工作时间内执行，不能实现无人操作且24小时都能进行调试。

造成上述缺点的原因是没有越过ZMD公司提供的调试软件，使用上位机软件直接对ZMD31050芯片进行调试。而ZMD31050芯片的通信协议复杂并且调试过程中涉及的计算算法也很复杂，这导致使用上位机软件直接与ZMD31050芯片进行调试的方法很难实现。故只有设计出上位机软件直接对ZMD31050芯片进行调试的方法，才能根据上述方法设计出ZMD31050芯片自动调试系统，实现ZMD31050芯片自动化、大批量和更加精确的调试。

发明内容

本发明要解决的技术问题就在于：针对现有技术存在的技术问题，本发明提供一种调试效率高、调试精确的ZMD31050芯片的调试方法和批量调试系统。

为解决上述技术问题，本发明提出的技术方案为：

一种ZMD31050芯片的调试方法，包括步骤：

首先使得ZMD31050芯片进入CM工作模式，采集ZMD31050芯片的端口2#在不同温度环境下的数字自动零补偿值；

将上述不同温度环境下的数字自动零补偿值与不同点压力信号采集值系数作为动态链接库函数的输入，得到用于计算校准公式的系数；

根据上述用于计算校准公式的系数与相关指令，得到当前被调试芯片的校验位；