[发明专利]一种SoC芯片检验方法、装置及相关设备在审
| 申请号： | 202111447838.1 | 申请日： | 2021-11-30 |
| 公开（公告）号： | CN114218882A | 公开（公告）日： | 2022-03-22 |
| 发明（设计）人： | 周运炉 | 申请（专利权）人： | 山东云海国创云计算装备产业创新中心有限公司 |
| 主分类号： | G06F30/3308 | 分类号： | G06F30/3308 |
| 代理公司： | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人： | 张凤伟 |
| 地址： | 250001 山东省济南市自由贸易试验*** | 国省代码： | 山东;37 |
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| 摘要： | 本申请公开了一种SoC芯片检验方法，包括当接收到验证指令时，根据所述验证指令从预设存储空间读取寄存器配置指令；其中，所述SoC芯片与硬件测试层连接，所述预设存储空间部署于所述硬件测试层；根据所述寄存器配置指令进行寄存器配置，并在寄存器配置完毕后启动所述SoC芯片中的各元件设备；获取各所述元件设备的运行结果，并根据各所述运行结果确定SoC芯片检验结果。应用本申请所提供的技术方案，可以实现系统级的SoC芯片的性能验证，保证芯片验证结果的准确性。本申请还公开了一种SoC芯片检验装置、设备及计算机可读存储介质，均具有上述有益效果。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 soc 芯片 检验 方法 装置 相关 设备 | ||
【主权项】：
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