[发明专利]一种SoC芯片检验方法、装置及相关设备

权利要求书

1.一种SoC芯片检验方法，其特征在于，包括：

当接收到验证指令时，根据所述验证指令从预设存储空间读取寄存器配置指令；其中，所述SoC芯片与硬件测试层连接，所述预设存储空间部署于所述硬件测试层；

根据所述寄存器配置指令进行寄存器配置，并在寄存器配置完毕后启动所述SoC芯片中的各元件设备；

获取各所述元件设备的运行结果，并根据各所述运行结果确定SoC芯片检验结果。

2.根据权利要求1所述的SoC芯片检验方法，其特征在于，接收所述验证指令包括：

当接收到复位信号时，响应所述验证指令；其中，所述复位信号由所述硬件测试层基于测试仿真脚本产生。

3.根据权利要求1所述的SoC芯片检验方法，其特征在于，所述根据所述验证指令从预设存储空间读取寄存器配置指令，包括：

根据所述验证指令，从所述预设存储空间的首地址开始读取所述寄存器配置指令，直至所有所述寄存器配置指令读取完毕。

4.根据权利要求1所述的SoC芯片检验方法，其特征在于，所述根据所述寄存器配置指令进行寄存器配置，包括：

根据所述寄存器配置指令确定目标寄存器；

通过BUS总线对所述目标寄存器进行配置。

5.根据权利要求1所述的SoC芯片检验方法，其特征在于，所述根据各所述运行结果确定SoC芯片检验结果，包括：

根据所述运行结果生成对应的波形数据；

判断所述波形数据是否满足预设波形要求；

若是，则确定所述SoC芯片检验结果为检验通过；

若否，则确定所述SoC芯片检验结果为检验不通过。

6.根据权利要求5所述的SoC芯片检验方法，其特征在于，还包括：

当所述SoC芯片检验结果为检验不通过时，输出告警提示。

7.根据权利要求1所述的SoC芯片检验方法，其特征在于，所述寄存器配置指令具体为基于IDE编译器编译生成的二进制指令。

8.一种SoC芯片检验装置，其特征在于，包括：

指令读取模块，用于当接收到验证指令时，根据所述验证指令从预设存储空间读取寄存器配置指令；其中，所述SoC芯片与硬件测试层连接，所述预设存储空间部署于所述硬件测试层；

寄存器配置模块，用于根据所述寄存器配置指令进行寄存器配置，并在寄存器配置完毕后启动所述SoC芯片中的各元件设备；

芯片验证模块，用于获取各所述元件设备的运行结果，并根据各所述运行结果确定SoC芯片检验结果。

9.一种SoC芯片检验设备，其特征在于，包括：

存储器，用于存储计算机程序；

处理器，用于执行所述计算机程序时实现如权利要求1至7任一项所述的SoC芯片检验方法的步骤。

10.一种计算机可读存储介质，其特征在于，所述计算机可读存储介质上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现如权利要求1至7任一项所述的SoC芯片检验方法的步骤。