[发明专利]一种SoC芯片检验方法、装置及相关设备

说明书

本申请公开了一种SoC芯片检验方法，包括当接收到验证指令时，根据所述验证指令从预设存储空间读取寄存器配置指令；其中，所述SoC芯片与硬件测试层连接，所述预设存储空间部署于所述硬件测试层；根据所述寄存器配置指令进行寄存器配置，并在寄存器配置完毕后启动所述SoC芯片中的各元件设备；获取各所述元件设备的运行结果，并根据各所述运行结果确定SoC芯片检验结果。应用本申请所提供的技术方案，可以实现系统级的SoC芯片的性能验证，保证芯片验证结果的准确性。本申请还公开了一种SoC芯片检验装置、设备及计算机可读存储介质，均具有上述有益效果。

技术领域

本申请涉及硬件测试技术领域，特别涉及一种SoC芯片检验方法，还涉及一种SoC芯片检验装置、设备及计算机可读存储介质。

背景技术

SoC(System on Chip，片上系统)技术是指将CPU(Central Processing Unit/Processor，中央处理器)和输入输出外设、存储器以及其他功能外设集成到一块芯片上。SoC技术可以有效减小产品面积，提高产品的性能，降低产品的功耗，提高产品的可靠性，因此得到了广泛的应用。但是，由于芯片的造价高昂，为了保证SoC芯片的功能和性能，在芯片流片前，需要进行大量充足的验证。

目前，SoC验证技术分三个部分：模块级，子系统级，系统级验证。正对这三级验证技术，往往系统级验证是人们容易疏忽的，认为模块级和子系统级验证完，就问题不大。然而，系统级软硬件仿真才是更真实的模拟了真实场景。

因此，如何实现系统级的SoC芯片的性能验证，保证芯片验证结果的准确性是本领域技术人员亟待解决的问题。

发明内容

本申请的目的是提供一种SoC芯片检验方法，该SoC芯片检验方法可以实现系统级的SoC芯片的性能验证，保证芯片验证结果的准确性；本申请的另一目的是提供一种SoC芯片检验装置、设备及计算机可读存储介质，均具有上述有益效果。

第一方面，本申请提供了一种SoC芯片检验方法，包括：

当接收到验证指令时，根据所述验证指令从预设存储空间读取寄存器配置指令；其中，所述SoC芯片与硬件测试层连接，所述预设存储空间部署于所述硬件测试层；

根据所述寄存器配置指令进行寄存器配置，并在寄存器配置完毕后启动所述SoC芯片中的各元件设备；

获取各所述元件设备的运行结果，并根据各所述运行结果确定SoC芯片检验结果。

优选的，接收所述验证指令包括：

当接收到复位信号时，响应所述验证指令；其中，所述复位信号由所述硬件测试层基于测试仿真脚本产生。

优选的，所述根据所述验证指令从预设存储空间读取寄存器配置指令，包括：

根据所述验证指令，从所述预设存储空间的首地址开始读取所述寄存器配置指令，直至所有所述寄存器配置指令读取完毕。

优选的，所述根据所述寄存器配置指令进行寄存器配置，包括：

根据所述寄存器配置指令确定目标寄存器；

通过BUS总线对所述目标寄存器进行配置。

优选的，所述根据各所述运行结果确定SoC芯片检验结果，包括：

根据所述运行结果生成对应的波形数据；

判断所述波形数据是否满足预设波形要求；

若是，则确定所述SoC芯片检验结果为检验通过；

若否，则确定所述SoC芯片检验结果为检验不通过。

优选的，所述SoC芯片检验方法还包括：