[发明专利]一种芯片测试装置和方法在审
| 申请号： | 202111433753.8 | 申请日： | 2021-11-29 |
| 公开（公告）号： | CN114089166A | 公开（公告）日： | 2022-02-25 |
| 发明（设计）人： | 苏佳宁;张先燃;朱骁昱 | 申请（专利权）人： | 江苏捷策创电子科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 北京品源专利代理有限公司 11332 | 代理人： | 李礼 |
| 地址： | 226400 江苏*** | 国省代码： | 江苏;32 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明实施例提供一种芯片测试装置和方法，芯片测试装置包括芯片测试模块、自检模块和报警模块；所述芯片测试模块包括多个器件，所述芯片测试模块用于测试芯片的质量；所述自检模块与所述芯片测试模块连接，所述自检模块用于在所述芯片测试模块测试芯片时检测所述芯片测试模块中未工作的器件是否有故障，并在检测到未工作的器件有故障时向所述报警模块发送报警信号；所述报警模块与所述自检模块连接，所述报警模块用于在接收到所述报警信号时发出报警提示。本发明实施例提供的芯片测试装置和方法，可以在芯片测试时监控芯片测试装置是否存在故障，并在芯片测试装置存在故障时发出报警提示。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 芯片 测试 装置 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于江苏捷策创电子科技有限公司，未经江苏捷策创电子科技有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/202111433753.8/，转载请声明来源钻瓜专利网。
