[发明专利]一种芯片测试装置和方法

权利要求书

1.一种芯片测试装置，其特征在于，包括芯片测试模块、自检模块和报警模块；

所述芯片测试模块包括多个器件，所述芯片测试模块用于测试芯片的质量；

所述自检模块与所述芯片测试模块连接，所述自检模块用于在所述芯片测试模块测试芯片时检测所述芯片测试模块中未工作的器件是否有故障，并在检测到未工作的器件有故障时向所述报警模块发送报警信号；

所述报警模块与所述自检模块连接，所述报警模块用于在接收到所述报警信号时发出报警提示。

2.根据权利要求1所述的芯片测试装置，其特征在于，所述自检模块包括器件检测单元和故障检测单元；

所述器件检测单元与所述故障检测单元和所述芯片测试模块中的每一器件连接，所述器件检测单元用于在所述芯片测试模块测试芯片时检测所述芯片测试模块中是否有未工作的器件，并在检测到未工作的器件时向所述故障检测单元发送检测信息；

所述故障检测单元与所述报警模块连接，所述故障检测单元用于根据检测信息找到未工作的器件并检测其是否有故障，并在检测到有故障时向所述报警模块发送报警信号。

3.根据权利要求2所述的芯片测试装置，其特征在于，所述自检模块还包括记录单元；

所述记录单元与所述故障检测单元连接，所述记录单元用于记录已被所述故障检测单元检测的器件的类型，还用于记录所述故障检测单元检测器件时被中断的位置。

4.根据权利要求1所述的芯片测试装置，其特征在于，所述自检模块还包括存储单元；

所述存储单元用于存储故障信息，其中，故障信息包括有故障的器件的名称。

5.根据权利要求2所述的芯片测试装置，其特征在于，所述自检模块还包括周期单元；

所述周期单元用于接收用户发送的自检周期；

所述故障检测单元与所述周期单元连接，所述故障检测单元用于在所述自检周期内检测完所述芯片测试模块中所有的器件。

6.根据权利要求1所述的芯片测试装置，其特征在于，还包括显示模块；

所述显示模块与所述自检模块连接，所述显示模块用于显示故障信息。

7.根据权利要求6所述的芯片测试装置，其特征在于，所述显示模块包括LED显示屏、LCD显示屏或OLED显示屏。

8.根据权利要求1所述的芯片测试装置，其特征在于，所述自检模块还用于在所述芯片测试模块测试芯片前对所述芯片测试模块中的所有器件进行检测。

9.一种芯片测试方法，其特征在于，芯片测试模块包括多个器件，自检模块与所述芯片测试模块连接，报警模块与所述自检模块连接；

所述芯片测试方法包括：

所述芯片测试模块测试芯片的质量，所述自检模块在所述芯片测试模块测试芯片时检测所述芯片测试模块中未工作的器件是否有故障，并在检测到未工作的器件有故障时向所述报警模块发送报警信号；

所述报警模块在接收到所述报警信号时发出报警提示。

10.根据权利要求9所述的芯片测试方法，其特征在于，在芯片测试模块测试芯片的质量之前还包括：

所述自检模块对所述芯片测试模块中的所有器件进行检测。