[发明专利]一种芯片测试装置和方法在审
申请号: | 202111433753.8 | 申请日: | 2021-11-29 |
公开(公告)号: | CN114089166A | 公开(公告)日: | 2022-02-25 |
发明(设计)人: | 苏佳宁;张先燃;朱骁昱 | 申请(专利权)人: | 江苏捷策创电子科技有限公司 |
主分类号: | G01R31/28 | 分类号: | G01R31/28 |
代理公司: | 北京品源专利代理有限公司 11332 | 代理人: | 李礼 |
地址: | 226400 江苏*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 芯片 测试 装置 方法 | ||
本发明实施例提供一种芯片测试装置和方法,芯片测试装置包括芯片测试模块、自检模块和报警模块;所述芯片测试模块包括多个器件,所述芯片测试模块用于测试芯片的质量;所述自检模块与所述芯片测试模块连接,所述自检模块用于在所述芯片测试模块测试芯片时检测所述芯片测试模块中未工作的器件是否有故障,并在检测到未工作的器件有故障时向所述报警模块发送报警信号;所述报警模块与所述自检模块连接,所述报警模块用于在接收到所述报警信号时发出报警提示。本发明实施例提供的芯片测试装置和方法,可以在芯片测试时监控芯片测试装置是否存在故障,并在芯片测试装置存在故障时发出报警提示。
技术领域
本发明涉及芯片测试领域,特别是涉及一种芯片测试装置和方法。
背景技术
芯片的质量关系到包括该芯片的产品的质量,芯片在出厂前,需要通过芯片测试装置进行测试,芯片测试装置会测试大量的芯片,直到这些芯片测试完成,当芯片测试装置出现问题时,芯片的测试结果将不准确。在大量的芯片测试结束后,若存在连续多个芯片的测试结果不准确,则需要检测芯片测试装置是否存在故障,现有的芯片测试装置需要在芯片测试结束后,才能检测其是否存在故障。
发明内容
本发明实施例提供的芯片测试装置和方法,可以在芯片测试时监控芯片测试装置是否存在故障,并在芯片测试装置存在故障时发出报警提示。
本实施例提供一种芯片测试装置,该芯片测试装置包括芯片测试模块、自检模块和报警模块;
所述芯片测试模块包括多个器件,所述芯片测试模块用于测试芯片的质量;
所述自检模块与所述芯片测试模块连接,所述自检模块用于在所述芯片测试模块测试芯片时检测所述芯片测试模块中未工作的器件是否有故障,并在检测到未工作的器件有故障时向所述报警模块发送报警信号;
所述报警模块与所述自检模块连接,所述报警模块用于在接收到所述报警信号时发出报警提示。
可选的,所述自检模块包括器件检测单元和故障检测单元;
所述器件检测单元与所述故障检测单元和所述芯片测试模块中的每一器件连接,所述器件检测单元用于在所述芯片测试模块测试芯片时检测所述芯片测试模块中是否有未工作的器件,并在检测到未工作的器件时向所述故障检测单元发送检测信息;
所述故障检测单元与所述报警模块连接,所述故障检测单元用于根据检测信息找到未工作的器件并检测其是否有故障,并在检测到有故障时向所述报警模块发送报警信号。
可选的,所述自检模块还包括记录单元;
所述记录单元与所述故障检测单元连接,所述记录单元用于记录已被所述故障检测单元检测的器件的类型,还用于记录所述故障检测单元检测器件时被中断的位置。
可选的,所述自检模块还包括存储单元;
所述存储单元用于存储故障信息,其中,故障信息包括有故障的器件的名称。
可选的,所述自检模块还包括周期单元;
所述周期单元用于接收用户发送的自检周期;
所述故障检测单元与所述周期单元连接,所述故障检测单元用于在所述自检周期内检测完所述芯片测试模块中所有的器件。
可选的,本实施例提供的芯片测试装置还包括显示模块;
所述显示模块与所述自检模块连接,所述显示模块用于显示故障信息。
可选的,所述显示模块包括LED显示屏、LCD显示屏或OLED显示屏。
可选的,所述自检模块还用于在所述芯片测试模块测试芯片前对所述芯片测试模块中的所有器件进行检测。
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