[发明专利]一种芯片测试系统在审
| 申请号： | 202111357484.1 | 申请日： | 2021-11-16 |
| 公开（公告）号： | CN116136566A | 公开（公告）日： | 2023-05-19 |
| 发明（设计）人： | 司丰炜 | 申请（专利权）人： | 紫光同芯微电子有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 100083 北京市海淀区*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本申请提供了一种芯片测试系统，包括：可编程逻辑器件；可编程逻辑器件包括：通用总线转换模块、通用总线互连模块和通用总线解码模块，通用总线转换模块用于实现芯片测试程序加载接口与通用总线主接口的总线转换，芯片测试程序加载接口用于加载芯片测试程序。通用总线互连模块用于实现通用总线主接口与多个通用总线从接口的互联。通用总线第一从接口连接通用总线解码模块，通用总线解码模块用于连接多种接口总线模块。至少一个通用总线第二从接口分别连接待测芯片各逻辑模块，用于对待测芯片的各逻辑模块进行测试。从而可以实现多种接口总线模块和待测芯片各逻辑模块之间的交互，实现不同模式之间的切换，从而提高通用性，可适应不同场景的需求。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 芯片 测试 系统 | ||
【主权项】：
暂无信息
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