[发明专利]一种内存测试装置和内存测试方法在审
| 申请号： | 202111350027.X | 申请日： | 2021-11-15 |
| 公开（公告）号： | CN116129985A | 公开（公告）日： | 2023-05-16 |
| 发明（设计）人： | 李银国;郭恒飞 | 申请（专利权）人： | 长鑫存储技术有限公司 |
| 主分类号： | G11C29/56 | 分类号： | G11C29/56;G06F11/22 |
| 代理公司： | 北京派特恩知识产权代理有限公司 11270 | 代理人： | 高天华;张颖玲 |
| 地址： | 230000 安徽省合肥市*** | 国省代码： | 安徽;34 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本申请实施例提供了一种内存测试装置和内存测试方法，应用于包括第一控制模块和内存模块的电子设备；内存测试装置包括：寄存器模块，用于存储测试参数；第二控制模块，用于存储内存测试标记；内存测试标记用于指示第一控制模块向第二控制模块发送测试启动信息；功能选择模块，用于在第二控制模块接收到测试启动信息之后，控制第一控制模块与内存模块处于隔绝状态，且控制第二控制模块与内存模块处于接通状态，以使得内存测试装置处于测试模式；第二控制模块，还用于在内存测试装置处于测试模式后，根据测试参数对内存模块进行测试，得到测试结果。本申请实施例中的内存测试装置可以提高内存测试的效率。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 内存 测试 装置 方法 | ||
【主权项】：
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