[发明专利]一种内存测试装置和内存测试方法

权利要求书

1.一种内存测试装置，其特征在于，应用于包括第一控制模块和内存模块的电子设备；所述内存测试装置包括第二控制模块、寄存器模块和功能选择模块；其中，

所述寄存器模块，用于存储测试参数；

所述第二控制模块，用于存储内存测试标记；其中，所述内存测试标记用于指示所述第一控制模块向所述第二控制模块发送测试启动信息；

所述功能选择模块，用于在所述第二控制模块接收到所述测试启动信息之后，控制所述第一控制模块与所述内存模块处于隔绝状态，且控制所述第二控制模块与所述内存模块处于接通状态，以使得所述内存测试装置处于测试模式；

第二控制模块，还用于在所述内存测试装置处于测试模式后，根据所述测试参数对所述内存模块进行测试，得到测试结果。

2.根据权利要求1所述的内存测试装置，其特征在于，

所述功能选择模块，还用于在所述第二控制模块接收到所述测试启动信息之前或者在所述第二控制模块得到测试结果之后，控制所述第一控制模块与所述内存模块处于接通状态，且控制所述第二控制模块与所述内存模块处于隔绝状态，以使得所述内存测试装置处于通路模式。

3.根据权利要求1所述的内存测试装置，其特征在于，

所述寄存器模块，还用于接收所述第二控制模块发送的所述测试参数；

所述第二控制模块，还用于在所述寄存器模块接收到所述测试参数后，生成所述内存测试标记；

其中，所述测试参数至少包括以下的一项：测试模式参数、测试地址参数和配置参数。

4.根据权利要求1所述的内存测试装置，其特征在于，

所述寄存器模块，还用于在对所述内存模块进行测试的过程中，存储写入数据和读出数据；

所述第二控制模块，还用于对所述写入数据和所述读出数据进行比较，并根据比较结果确定所述内存模块的测试结果。

5.根据权利要求1所述的内存测试装置，其特征在于，

所述第二控制模块，用于基于所述测试参数对所述内存模块进行分组处理，得到至少一个待测试内存组；并对所述至少一个待测试内存组进行并行测试，得到所述测试结果。

6.根据权利要求2所述的内存测试装置，其特征在于，

所述内存测试装置，还用于在所述第二控制模块检测到测试失败时，执行重新测试步骤或者执行退出步骤；或者

在所述第二控制模块检测到测试结束时，执行退出步骤。

7.根据权利要求6所述的内存测试装置，其特征在于，

所述内存测试装置，还用于通过所述第二控制模块向所述第一控制模块发送测试结束信息，以及通过所述功能选择模块从所述测试模式切换为所述通路模式，以实现所述退出步骤。

8.根据权利要求1所述的内存测试装置，其特征在于，所述内存测试装置还包括交互接口；

所述内存测试装置，还用于通过所述交互接口接收所述测试参数；或者，通过所述交互接口输出所述测试结果。

9.一种内存测试方法，应用于包括内存测试装置、第一控制模块和内存模块的电子设备，所述方法包括：

在所述电子设备的第一启动阶段，对所述内存模块进行初始化处理；

在所述第一控制模块检测到所述内存测试装置存储有内存测试标记的情况下，控制所述电子设备停止执行第二启动阶段，并向所述内存测试装置发送测试启动信息，以控制所述内存测试装置进入测试模式；其中，所述测试模式指示所述第一控制模块与所述内存模块处于隔绝状态，且所述内存测试装置与所述内存模块处于接通状态；

根据所述内存测试装置中存储的测试参数，通过所述内存测试装置对所述内存模块进行测试，得到测试结果。