[发明专利]一种内存测试装置和内存测试方法

说明书

本申请实施例提供了一种内存测试装置和内存测试方法，应用于包括第一控制模块和内存模块的电子设备；内存测试装置包括：寄存器模块，用于存储测试参数；第二控制模块，用于存储内存测试标记；内存测试标记用于指示第一控制模块向第二控制模块发送测试启动信息；功能选择模块，用于在第二控制模块接收到测试启动信息之后，控制第一控制模块与内存模块处于隔绝状态，且控制第二控制模块与内存模块处于接通状态，以使得内存测试装置处于测试模式；第二控制模块，还用于在内存测试装置处于测试模式后，根据测试参数对内存模块进行测试，得到测试结果。本申请实施例中的内存测试装置可以提高内存测试的效率。

技术领域

本申请涉及电路测试技术领域，尤其涉及一种内存测试装置和内存测试方法。

背景技术

消费类电子产品已经遍及生活中的各个方面，几乎所有的消费类电子产品都会使用内存。在电子设备/内存出厂前，需要对内存进行功能和可靠性方面的测试。但是，相关技术中的内存测试方法仍然面临一些问题。

发明内容

本申请提供了一种内存测试装置和内存测试方法，能够提高内存测试的覆盖率和效率。

本申请的技术方案是这样实现的：

第一方面，本申请实施例提供了一种内存测试装置，应用于包括第一控制模块和内存模块的电子设备；该内存测试装置包括第二控制模块、寄存器模块和功能选择模块；其中，

寄存器模块，用于存储测试参数；

第二控制模块，用于存储内存测试标记；其中，内存测试标记用于指示第一控制模块向第二控制模块发送测试启动信息；

功能选择模块，用于在第二控制模块接收到测试启动信息之后，控制第一控制模块与内存模块处于隔绝状态，且控制第二控制模块与内存模块处于接通状态，以使得内存测试装置处于测试模式；

第二控制模块，还用于在内存测试装置处于测试模式后，根据测试参数对内存模块进行测试，得到测试结果。

在一些实施例中，功能选择模块，还用于在第二控制模块接收到测试启动信息之前或者在第二控制模块得到测试结果之后，控制第一控制模块与内存模块处于接通状态，且控制第二控制模块与内存模块处于隔绝状态，以使得内存测试装置处于通路模式。

在一些实施例中，寄存器模块，还用于接收第二控制模块发送的测试参数；第二控制模块，还用于在寄存器接收到测试参数后，生成内存测试标记；其中，测试参数至少包括以下的一项：测试模式参数、测试地址参数和配置参数。

在一些实施例中，寄存器模块，还用于在对内存模块进行测试的过程中，存储写入数据和读出数据；第二控制模块，还用于对写入数据和读出数据进行比较，并根据比较结果确定内存模块的测试结果。

在一些实施例中，第二控制模块，用于基于测试参数对内存模块进行分组处理，得到至少一个待测试内存组；并对至少一个待测试内存组进行并行测试，得到测试结果。

在一些实施例中，内存测试装置，还用于在第二控制模块检测到测试失败时，执行重新测试步骤或者执行退出步骤；或者在第二控制模块检测到测试结束时，执行退出步骤。

在一些实施例中，内存测试装置，还用于通过第二控制模块向第一控制模块发送测试结束信息，以及通过功能选择模块从测试模式切换为通路模式，以实现退出步骤。

在一些实施例中，内存测试装置还包括交互接口；内存测试装置，还用于通过交互接口接收测试参数；或者，通过交互接口输出测试结果。

第二方面，本申请实施例提供了一种内存测试方法，应用于包括内存测试装置、第一控制模块和内存模块的电子设备，该方法包括：

在电子设备的第一启动阶段，对内存模块进行初始化处理；