[发明专利]一种二极管晶粒焊接合格品的筛选方法

摘要

本发明公开一种二极管晶粒焊接合格品的筛选方法，涉及二极管筛选方法技术领域，包括以下步骤：步骤S1：对待检测的二极管的晶粒通入正向电流IM，获得正向电压VF1，通电时间为t1；步骤S2：继续对步骤S1中所述的晶粒通入正向电流IT，通电时间为t2；步骤S3：断开所述正向电流IT，并重新通入正向电流IM，获得正向电压VF2，通电时间为t1；步骤S4：将步骤S1中的VF1和步骤S3中VF2带入公式：|VF1‑VF2|＝△VF中，计算得出△VF；步骤S5：与该类型合格品相同部位的晶粒的△VF’比较，以筛选出二极管是否为合格品。本发明解决了现有技术中二极管的空洞率检测成本高、效率低的技术问题。