[发明专利]一种二极管晶粒焊接合格品的筛选方法

权利要求书

1.一种二极管晶粒焊接合格品的筛选方法，其特征在于，包括以下步骤：

步骤S1：对待检测的二极管的晶粒通入正向电流IM，获得正向电压VF₁，通电时间为t₁；

步骤S2：继续对步骤S1中所述的晶粒通入正向电流IT，通电时间为t₂；

步骤S3：断开所述正向电流IT，并重新通入所述正向电流IM，获得正向电压VF₂，通电时间为t ₁；

步骤S4：将步骤S1中的VF₁和步骤S3中VF₂带入公式：|VF₁-VF₂|＝△VF中，计算得出△VF；

步骤S5：与该类型合格品相同部位的晶粒的△VF’进行比较，若△VF△VF’，则该待检测的二极管为非合格品；若△VF≤△VF’，则待检测的二极管为合格品。

2.根据权利要求1所述的二极管晶粒焊接合格品的筛选方法，其特征在于，所述正向电流IT大于所述正向电流IM。

3.根据权利要求1所述的二极管晶粒焊接合格品的筛选方法，其特征在于，所述通电时间t₂大于所述通电时间t₁，且所述t₂至少为10ms。

4.根据权利要求1所述的二极管晶粒焊接合格品的筛选方法，其特征在于，所述步骤S5中所述合格品的△VF’的范围为△VF_X-(3～6)△VF_σ≤△VF’≤△VF_X+(3～6)△VF_σ；所述△VF_X为典型值，所述△VF_σ为标准差。

5.根据权利要求4所述的二极管晶粒焊接合格品的筛选方法，其特征在于，所述△VF_X和△VF_σ的具体测量方法如下：

步骤S501：选择n个与步骤S1的待检测的二极管为同一类型的合格品；

步骤S502：对其中一个的合格品的晶粒通入所述正向电流IM，获得正向电压VF₁’，通电时间为t₁；继续对该合格品的同一晶粒通入所述正向电流IT，通电时间为t₂；断开所述正向电流IT，并重新通入所述正向电流IM，通电时间为t₁，获得正向电压VF₂’；将所述正向电压VF₁’和所述正向电压VF₂’带入公式：|VF₁’-VF₂’|＝△VF₁’中，计算得出△VF₁’；对剩余的二极管重复上述步骤，得到△VF₂’、△VF₃’……△VF_n’的数据集；

步骤S503：对步骤S502的数据集进行数据统计分析，选取典型值△VF_X和标准差△VF。

6.根据权利要求5所述的二极管晶粒焊接合格品的筛选方法，其特征在于，所述步骤S501中的合格品数目n≥100。