[发明专利]一种多功能忆阻器及其调控方法在审
申请号: | 202111287968.3 | 申请日: | 2021-11-02 |
公开(公告)号: | CN114203900A | 公开(公告)日: | 2022-03-18 |
发明(设计)人: | 杨蕊;夏剑;缪向水 | 申请(专利权)人: | 华中科技大学;湖北江城实验室 |
主分类号: | H01L45/00 | 分类号: | H01L45/00 |
代理公司: | 华中科技大学专利中心 42201 | 代理人: | 胡秋萍 |
地址: | 430074 湖北*** | 国省代码: | 湖北;42 |
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摘要: | 本发明公开了一种多功能忆阻器及其调控方法,其调控方法包括:在底电极上形成原始薄膜,所述原始薄膜为包括含In和Se的化合物薄膜;通过氧等离子体工艺对所述原始薄膜进行处理,将原始薄膜表层氧化为氧化层,形成阻变层,所述阻变层包括氧化层和剩余的原始薄膜;在所述阻变层上制备顶电极,形成忆阻器;其中,在形成阻变层期间,通过调控氧等离子体工艺的处理参数,调控阻变层内导电细丝的形态,改变忆阻器的易失性或非易失性。本申请可以基于一种材料,通过改变器件制备期间的工艺参数,得到不同性能的忆阻器,基于同一种材料实现忆阻器的多功能调控,有利于简化大规模集成电路的工艺与结构。 | ||
搜索关键词: | 一种 多功能 忆阻器 及其 调控 方法 | ||
【主权项】:
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