[发明专利]一种多功能忆阻器及其调控方法在审

专利信息
申请号: 202111287968.3 申请日: 2021-11-02
公开(公告)号: CN114203900A 公开(公告)日: 2022-03-18
发明(设计)人: 杨蕊;夏剑;缪向水 申请(专利权)人: 华中科技大学;湖北江城实验室
主分类号: H01L45/00 分类号: H01L45/00
代理公司: 华中科技大学专利中心 42201 代理人: 胡秋萍
地址: 430074 湖北*** 国省代码: 湖北;42
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摘要: 发明公开了一种多功能忆阻器及其调控方法,其调控方法包括:在底电极上形成原始薄膜,所述原始薄膜为包括含In和Se的化合物薄膜;通过氧等离子体工艺对所述原始薄膜进行处理,将原始薄膜表层氧化为氧化层,形成阻变层,所述阻变层包括氧化层和剩余的原始薄膜;在所述阻变层上制备顶电极,形成忆阻器;其中,在形成阻变层期间,通过调控氧等离子体工艺的处理参数,调控阻变层内导电细丝的形态,改变忆阻器的易失性或非易失性。本申请可以基于一种材料,通过改变器件制备期间的工艺参数,得到不同性能的忆阻器,基于同一种材料实现忆阻器的多功能调控,有利于简化大规模集成电路的工艺与结构。
搜索关键词: 一种 多功能 忆阻器 及其 调控 方法
【主权项】:
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