[发明专利]基于多重稀释法的半导体溶剂ICP-MS测定方法在审
| 申请号： | 202111257769.8 | 申请日： | 2021-10-27 |
| 公开（公告）号： | CN113933376A | 公开（公告）日： | 2022-01-14 |
| 发明（设计）人： | 宋牧函;孔磊;唐斌;王翼 | 申请（专利权）人： | 雅邦绿色过程与新材料研究院南京有限公司 |
| 主分类号： | G01N27/626 | 分类号： | G01N27/626 |
| 代理公司： | 南京众联专利代理有限公司 32206 | 代理人： | 许小莉 |
| 地址： | 210047 江苏省南京市*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明提供一种基于多重稀释法的半导体化学品ICP‑MS测定方法，包括如下步骤：首先将不能与水混合的待测定的半导体溶剂，加入助溶溶剂成为混合有机溶剂；然后将混合有机溶剂加纯水稀释得到1#稀释样品；再将1#稀释样品再加入纯水进行稀释得到2#稀释样品；对于待测定的半导体溶剂中的一种元素，以1#稀释样品，用电感耦合等离子质谱仪扫描得到标准曲线并计算出1#稀释样品的浓度C1；同理计算出2#稀释样品中该种元素的浓度C2；并将结果带入拟合算法公式，得到该元素在待测定的半导体溶剂中的浓度。本发明通过同一样品不同稀释倍数法，对混合基体ICP‑MS测定的信号值进行背景拟合运算，实现痕量元素的准确测定。 | ||
| 搜索关键词： | 基于 多重 稀释 半导体 溶剂 icp ms 测定 方法 | ||
【主权项】：
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