[发明专利]测试系统以及测试方法在审
| 申请号： | 202111154673.9 | 申请日： | 2021-09-29 |
| 公开（公告）号： | CN115881203A | 公开（公告）日： | 2023-03-31 |
| 发明（设计）人： | 罗宇诚 | 申请（专利权）人： | 瑞昱半导体股份有限公司 |
| 主分类号： | G11C29/12 | 分类号： | G11C29/12;G11C29/10 |
| 代理公司： | 北京市立方律师事务所 11330 | 代理人： | 李娜;王凯霞 |
| 地址： | 中国台*** | 国省代码： | 台湾;71 |
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| 摘要： | 一种测试系统包含：多个第一锁存器；X转Y压缩器，耦接该多个第一锁存器，用于将该多个第一锁存器所输出的X位信号压缩为Y位信号，X和Y为正整数且X大于Y；至少一个第二锁存器，耦接该X转Y压缩器，用于接收该Y位信号以产生扫描输出，其中，每一个该第一锁存器以及该第二锁存器形成D型触发器；其中，该测试系统于普通模式下输出该X位信号且于测试模式下输出该扫描输出。 | ||
| 搜索关键词： | 测试 系统 以及 方法 | ||
【主权项】：
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