[发明专利]基于透明闪烁体薄膜的显微成像方法和系统在审
| 申请号： | 202111138816.7 | 申请日： | 2021-09-27 |
| 公开（公告）号： | CN113866192A | 公开（公告）日： | 2021-12-31 |
| 发明（设计）人： | 谷战军;吴晓辰;董兴华 | 申请（专利权）人： | 中国科学院高能物理研究所 |
| 主分类号： | G01N23/04 | 分类号： | G01N23/04;G01N23/083 |
| 代理公司： | 北京天达知识产权代理事务所(普通合伙) 11386 | 代理人： | 姚东华 |
| 地址： | 100049 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种基于透明闪烁体薄膜的显微成像方法和系统，属于高分辨X射线成像领域，用于解决显微镜无法获取完全的微观结构的问题，所述方法包括：在待观测样品的观测面上设置透明闪烁体薄膜；利用显微镜在所述待观测样品的观测面上确定观测区域；利用X射线照射所述待观测样品的非观测面，所述观测面和所述非观测面互为正反面；利用所述显微镜观测所述X射线通过所述观测区域和所述透明闪烁体薄膜得到图像。本发明提供的技术方案能够提高显微成像的精确度。 | ||
| 搜索关键词： | 基于 透明 闪烁 薄膜 显微 成像 方法 系统 | ||
【主权项】：
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