[发明专利]一种基于梯度自校验的芯片筛选方法有效
| 申请号： | 202111125322.5 | 申请日： | 2021-09-26 |
| 公开（公告）号： | CN113567842B | 公开（公告）日： | 2021-12-10 |
| 发明（设计）人： | 王测天;钟丹;邬海峰;陈长风;胡柳林;吕继平;黄梦;叶珍;彭郑;童伟 | 申请（专利权）人： | 成都嘉纳海威科技有限责任公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 北京正华智诚专利代理事务所(普通合伙) 11870 | 代理人： | 李林合 |
| 地址： | 610200 四川省成*** | 国省代码： | 四川;51 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种基于梯度自校验的芯片筛选方法，包括IV数据提取测试、梯度自校验参数提取、三元自校验电流计算、三元差值运算处理以及门限判别和芯片筛选。本发明通过基于梯度自校验方法的公式计算和数据比较，找出具有潜在缺陷的异常芯片，当应用在芯片的量产测试阶段时，由于未引入新的测试频点和测试设备，使得其具有测试成本低、速度快、配置环境简单的特点。此外，本发明可以显著遏制芯片量产测试的正常波动对于量产测试的干扰作用，有效拦截了具有潜在缺陷的异常芯片，从而降低芯片的故障率。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 基于 梯度 校验 芯片 筛选 方法 | ||
【主权项】：
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