[发明专利]一种电子元件检测方法有效
| 申请号： | 202111125226.0 | 申请日： | 2021-09-26 |
| 公开（公告）号： | CN113857061B | 公开（公告）日： | 2023-07-28 |
| 发明（设计）人： | 葛晋珍 | 申请（专利权）人： | 浙江晶引电子科技有限公司 |
| 主分类号： | B07C5/02 | 分类号： | B07C5/02;B07C5/344;B07C5/36 |
| 代理公司： | 苏州言思嘉信专利代理事务所(普通合伙) 32385 | 代理人： | 徐永雷 |
| 地址： | 323000 浙江省丽水市莲都区南明山*** | 国省代码： | 浙江;33 |
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| 摘要： | 本发明涉及电子元件技术领域，尤其涉及一种电子元件检测方法，该一种电子元件检测方法采用一种电子元件检测设备配合完成,该电子元件检测设备包括检测箱，检测箱一侧设有进料传输机构对电子元件进行传输到检测箱内，检测箱远离进料传输机构一侧设有出料传输机构把检测完成的电子元件传输出检测箱外，检测箱内部上方向进料传输机构一侧设有控制下料部件控制电子元件依次有序下落，控制下料部件下方设有摆正部件对电子元件进行旋转摆正居中下落，摆正部件下方设有检测部件对电子元件进行检测筛选。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 电子元件 检测 方法 | ||
【主权项】：
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