[发明专利]一种电子元件检测方法

权利要求书

1.一种电子元件检测方法，其特征在于，包括以下步骤:

S1:电子元件放入，电子元件在进料传输机构上通过进料口进入到检测箱内；

S2:控制下落，电子元件进入到第一漏斗内依次下落到摆正部件内；

S3：转动摆正，电子元件下端被滑块吸铁石吸住，第二漏斗转动使电子元件离心方向向上；

S4：居中下落，摆正好的电子元件进行居中下落到检测部件内；

S5：调整，对电子元件连接脚进行方位调整和电子元件进行卡位限制；

S6：检测，对电子元件进行万用表检测，通过检测的数据进行判断；

S7:转动筛选，通过转动把坏的电子元件放入收集盒内，好的转动到放置盒内；

S8：传输，把装好的电子元件传输出检测箱进行打包运输；

步骤S1-S8采用一种电子元件检测设备配合完成,该电子元件检测设备包括检测箱(10)，所述检测箱(10)一侧设有进料传输机构(11)对电子元件进行传输到检测箱(10)内，所述检测箱(10)远离进料传输机构(11)一侧设有出料传输机构(12)把检测完成的电子元件传输出检测箱(10)外，所述检测箱(10)内部上方向进料传输机构(11)一侧设有控制下料部件(13)控制电子元件依次有序下落，所述控制下料部件(13)下方设有摆正部件(14)对电子元件进行旋转摆正居中下落，所述摆正部件(14)下方设有检测部件(15)对电子元件进行检测筛选；

所述检测箱(10)向进料传输机构(11)方向的一端滑动设有进口滑门(17)，所述检测箱(10)向出料传输机构(12)一端滑动设有出口滑门(18)，所述出料传输机构(12)在检测箱(10)内部上端设有放置盒(16)；

所述控制下料部件(13)包括进料漏斗(20)，所述进料漏斗(20)位于检测箱(10)向进料传输机构(11)方向的一端上方，所述进料漏斗(20)上方设有挡块(19)，所述挡块(19)固定在检测箱(10)上，所述进料漏斗(20)中间固设有隔板(21)，所述隔板(21)上端固设有导向固定块(22)，所述导向固定块(22)两侧设有两个推动组(23)，所述推动组(23)包含设有多层伸缩柱(24)，所述多层伸缩柱(24)远离导向固定块(22)一端固设有推板(25)，所述隔板(21)两侧转动连接设有两个转柱(26)，所述两个转柱(26)外围固设有两个转动板(27)，所述隔板(21)下端设有第一滑槽(28)，所述第一滑槽(28)内滑动设有两个滑块(29)，所述两个滑块(29)下端固设有两个伸缩吸铁石(30)，所述进料漏斗(20)内部底部两侧固设有两个固定挡块(31)，所述进料漏斗(20)内部底部中间设有下落口(32)；

所述摆正部件(14)包括摆正漏斗(33)，所述摆正漏斗(33)位于进料漏斗(20)下方，所述摆正漏斗(33)外围转动连接设有固定板(37)，所述固定板(37)固定在检测箱(10)上，所述摆正漏斗(33)向进料传输机构(11)一侧滑动设有多个滑动吸铁石(34)，所述摆正漏斗(33)下端固设有摆正筒(35)，所述摆正筒(35)内部下方两侧设有两个居中推环(36)，所述固定板(37)远离进料传输机构(11)方向的下端固设有固定块(38)，所述固定块(38)下方设有电机(39)，所述电机(39)上端固设有第一联动轴(40)，所述第一联动轴(40)与固定块(38)转动连接，所述第一联动轴(40)外围固设有带动套筒(41)，所述带动套筒(41)与摆正筒(35)联动连接；

所述检测部件(15)包括第二联动轴(42)，所述第二联动轴(42)固定在电机(39)下端，所述第二联动轴(42)外圆周面上固设有四个伸缩连接杆(43)，所述四个伸缩连接杆(43)远离第二联动轴(42)一端固设有四个检测固定组(44)，所述第二联动轴(42)一侧设有收集盒(59)，所述收集盒(59)固定在检测箱(10)一侧底部，所述收集盒(59)向第二联动轴(42)方向一端固设有倾斜导向板(58)；

所述检测固定组(44)包含设有固定环(45)，所述固定环(45)内部两侧滑动设有两个滑动卡位块(46)，所述固定环(45)下端一侧设有万用表检测组(47)，所述固定环(45)下端远离万用表检测组(47)一侧设有电流表检测组(48)，所述固定环(45)下端两侧设有转动组(49)，所述转动组(49)包含设有两个伸缩转动柱(50)，所述两个伸缩转动柱(50)转动连接在固定环(45)上，所述两个伸缩转动柱(50)下端固设有两个拨杆(51)，所述万用表检测组(47)包含设有两个第一齿轮(52)，所述两个第一齿轮(52)转动连接在固定环(45)下端，所述两个第一齿轮(52)啮合连接设有两个第一检测笔套(53)，所述两个第一检测笔套(53)滑动连接在固定环(45)下端，所述两个第一检测笔套(53)内部滑动设有两个第一伸缩检测笔(54)，所述电流表检测组(48)包含设有两个第二齿轮(55)，所述两个第二齿轮(55)转动连接在固定环(45)下端，所述两个第二齿轮(55)啮合设有两个第二检测笔套(56)，所述两个第二检测笔套(56)滑动连接在固定环(45)下端，所述两个第二检测笔套(56)内部滑动设有两个第二伸缩检测笔(57)。