[发明专利]一种电子元件检测方法

说明书

本发明涉及电子元件技术领域，尤其涉及一种电子元件检测方法，该一种电子元件检测方法采用一种电子元件检测设备配合完成,该电子元件检测设备包括检测箱，检测箱一侧设有进料传输机构对电子元件进行传输到检测箱内，检测箱远离进料传输机构一侧设有出料传输机构把检测完成的电子元件传输出检测箱外，检测箱内部上方向进料传输机构一侧设有控制下料部件控制电子元件依次有序下落，控制下料部件下方设有摆正部件对电子元件进行旋转摆正居中下落，摆正部件下方设有检测部件对电子元件进行检测筛选。

技术领域

本发明涉及电子元件技术领域，尤其涉及一种电子元件检测方法。

背景技术

电子元件，是电子电路中的基本元素，现有的电子元件在进行生产加工时，其成品多需要进行运输，以方便转移电子元件，从而再来进行电子元件的包装加工，而由于电子元件存在着不合格品，如次品充斥在成品中，则导致产品的合格率大大下降，影响生产厂商的口碑，同时次品流入市场后，当其进行安装使用时，也存在着极大的安全隐患，十分的危险，目前的电子元件检测需要人工进行摆正用万用表和电流表进行检测，电子元件检测数量多而且繁琐。

发明内容

本发明的目的是针对现有的技术存在上述问题，提出了一种电子元件检测方法，

本发明的目的可通过下列技术方案来实现：一种电子元件检测方法，包括以下步骤:

S1:电子元件放入，电子元件在进料传输机构上通过进料口进入到检测箱内；

S2:控制下落，电子元件进入到漏斗内依次下落到摆正部件内；

S3：转动摆正，电子元件下端被滑块吸铁石吸住，漏斗转动使电子元件上端向上离心方向；

S4：居中下落，摆正好的电子元件进行居中下落到检测部件内；

S5：调整，对电子元件进行连接脚进行方位调整和电子元件卡位进行限制；

S6：检测，对电子元件进行万用表检测，通过检测的数据进行判断；

S7:转动筛选，通过转动把坏的电子元件放入回收盒内，好的转动到收集盒内；

S8：传输，把装好的电子元件传输出检测箱进行打包运输；

步骤S1-S8采用一种电子元件检测设备配合完成,该电子元件检测设备包括检测箱，检测箱一侧设有进料传输机构对电子元件进行传输到检测箱内，检测箱远离进料传输机构一侧设有出料传输机构把检测完成的电子元件传输出检测箱外，检测箱内部上方向进料传输机构一侧设有控制下料部件控制电子元件依次有序下落，控制下料部件下方设有摆正部件对电子元件进行旋转摆正居中下落，摆正部件下方设有检测部件对电子元件进行检测筛选。

优选的，检测箱向进料传输机构方向的一端滑动设有进口滑门，检测箱向出料传输机构一端滑动设有出口滑门，出料传输机构在检测箱内部上端设有放置盒。

优选的，控制下料部件包括进料漏斗，进料漏斗位于检测箱向进料传输机构方向的一端上方，进料漏斗上方设有挡块，挡块固定在检测箱上，进料漏斗中间固设有隔板，隔板上端固设有导向固定块，导向固定块两侧设有两个推动组，推动组包含设有多层伸缩柱，多层伸缩柱远离导向固定块一端固设有推板，隔板两侧转动连接设有两个转柱，两个转柱外围固设有两个转动板，隔板下端设有第一滑槽，第一滑槽内滑动设有两个滑块，两个滑块下端固设有两个伸缩吸铁石，进料漏斗内部底部两侧固设有两个固定挡块，进料漏斗内部底部中间设有下落口。

优选的，摆正部件包括摆正漏斗，摆正漏斗位于进料漏斗下方，摆正漏斗外围转动连接设有固定板，固定板固定在检测箱上，摆正漏斗向进料传输机构一侧滑动设有多个滑动吸铁石，摆正漏斗下端固设有摆正筒，摆正筒内部下方两侧设有两个居中推环，固定板远离进料传输机构方向的下端固设有固定块，固定块下方设有电机，电机上端固设有第一联动轴，第一联动轴与固定块转动连接，第一联动轴外围固设有带动套筒，带动套筒与摆正筒联动连接。