[发明专利]一种电阻测试方法及电阻测试装置在审
| 申请号： | 202111121654.6 | 申请日： | 2021-09-24 |
| 公开（公告）号： | CN113740607A | 公开（公告）日： | 2021-12-03 |
| 发明（设计）人： | 黄荣;景小红 | 申请（专利权）人： | 深圳市华星光电半导体显示技术有限公司 |
| 主分类号： | G01R27/02 | 分类号： | G01R27/02;G01K7/02 |
| 代理公司： | 深圳紫藤知识产权代理有限公司 44570 | 代理人： | 杨艇要 |
| 地址： | 518132 广东省深*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本申请实施例公开了一种电阻测试方法及电阻测试装置。本申请实施例提供的电阻测试方法，首先通过输入测试电流值测试目标区域对应的测试温度。再固定一测试电流值，通过调节设定电阻值的方式仿真计算出第一仿真温度。通过比对调节设定电阻值得到的第一仿真温度与测试温度的差值，确定目标电阻值。再固定目标电阻值，调节测试电流值仿真计算第二仿真温度。通过比对调节测试电流值得到的第二仿真温度与测试电阻的差值，验证目标电阻值，最终得到目标区域的电阻值。本申请实施例提供的电阻测试方法可较为方便的测得COF与显示面板之间绑定区域的电阻值，测试方法简单可靠。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 电阻 测试 方法 装置 | ||
【主权项】：
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