[发明专利]一种电阻测试方法及电阻测试装置

权利要求书

1.一种电阻测试方法，其特征在于，所述电阻测试方法用于测试显示面板的目标区域电阻，所述电阻测试方法包括：

根据多个测试电流值获取所述目标区域对应的测试温度，多个所述测试电流值包括一第一测试电流值和至少一个第二测试电流值，所述第二测试电流值的电流值不同；

根据一设定电阻值和所述第一测试电流值获取第一仿真温度；

比较所述第一仿真温度与所述第一测试电流值对应的所述测试温度；

若所述第一仿真温度与所述测试温度的差值小于误差值，则设定所述设定电阻值为目标电阻值；

根据所述目标电阻值和所述第二测试电流值获取第二仿真温度；

比较所述第二仿真温度与所述第二测试电流值对应的所述测试温度；

若所述第二仿真温度与所述第二测试电流值对应的所述测试温度的差值小于所述误差值，则所述目标电阻值为所述目标区域电阻。

2.根据权利要求1所述的电阻测试方法，其特征在于，所述比较所述第一仿真温度与所述测试温度之后，还包括如下步骤：

若所述第一仿真温度与所述测试温度的差值大于所述误差值，则调节所述设定电阻值，直至所述第一仿真温度与所述测试温度的差值小于所述误差值。

3.根据权利要求2所述的电阻测试方法，其特征在于，所述调节所述设定电阻值，包括如下步骤：

当所述第一仿真温度大于所述测试温度，则减小所述设定电阻值；当所述第一仿真温度小于所述测试温度，则增大所述设定电阻值，直至所述第一仿真温度与所述测试温度的差值小于所述误差值。

4.根据权利要求1所述的电阻测试方法，其特征在于，多个所述测试电流值的电流大小介于1毫安至20毫安之间。

5.根据权利要求1所述的电阻测试方法，其特征在于，多个所述测试电流值之间的差值大小介于0.1毫安至1毫安。

6.根据权利要求1所述的电阻测试方法，其特征在于，所述根据所述设定电阻值获取第一仿真温度，包括如下步骤：

对所述目标区域进行热仿真建模，并设置散热条件；

根据所述设定电阻值计算得到发热功耗；

根据所述发热功耗以及所述热仿真建模获取第一仿真温度。

7.根据权利要求6所述的电阻测试方法，其特征在于，所述散热条件包括空气对流散热系数和辐射散热系数。

8.根据权利要求7所述的电阻测试方法，其特征在于，所述空气对流散热系数介于5至25之间，所述辐射散热系数介于0.8至0.95之间。

9.一种电阻测试装置，其特征在于，所述电阻测试装置用于测试显示面板的目标区域电阻，所述电阻测试装置包括：

获取单元，所述获取单元用于根据多个测试电流值获取所述目标区域对应的测试温度，所述获取单元用于根据所述设定电阻值和所述第一测试电流值获取第一仿真温度，所述获取单元用于根据所述目标电阻值和所述第二测试电流值获取第二仿真温度；

比较单元，所述比较单元用于比较所述第一仿真温度与所述测试温度，并用于比较所述第二仿真温度与所述测试温度。

10.根据权利要求9所述的电阻测试装置，其特征在于，所述显示面板的目标区域绑定有覆晶薄膜，所述获取单元包括供电电源部以及热电偶测试部，所述供电电源部用于向所述覆晶薄膜输入所述测试电流值，所述热电偶测试部用于获取所述目标区域的所述测试温度。