[发明专利]相位移光罩的修补方法、修补装置以及相位移光罩在审
| 申请号: | 202111111885.9 | 申请日: | 2021-09-18 |
| 公开(公告)号: | CN113848679A | 公开(公告)日: | 2021-12-28 |
| 发明(设计)人: | 张哲玮;高翌;朱佳楠 | 申请(专利权)人: | 泉意光罩光电科技(济南)有限公司 |
| 主分类号: | G03F1/72 | 分类号: | G03F1/72;G03F1/26;H01L21/033 |
| 代理公司: | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人: | 耿苑 |
| 地址: | 250101 山东省济南市高新区经十路7*** | 国省代码: | 山东;37 |
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| 摘要: | 本发明公开了一种相位移光罩的修补方法、修补装置以及相位移光罩,所述修补方法包括:提供一待修补的相位移光罩,所述相位移光罩具有透明基底,所述透明基底具有第一表面,所述第一表面上具有不透光线条;获取所述不透光线条的图形结构,以确定所述相位移光罩中所述不透光线条的缺失部分;在所述第一表面对应所述缺失部分的区域形成刻蚀沟槽,以降低所述区域的透光率。应用本发明提供的技术方案,通过使用光罩修补机台以刻蚀修补法的方式进行玻璃损害修补,可以降低遮光率,并减少光学邻近效应。 | ||
| 搜索关键词: | 相位 移光罩 修补 方法 装置 以及 | ||
【主权项】:
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- 专利分类
G03 摄影术;电影术;利用了光波以外其他波的类似技术;电记录术;全息摄影术
G03F 图纹面的照相制版工艺,例如,印刷工艺、半导体器件的加工工艺;其所用材料;其所用原版;其所用专用设备
G03F1-00 用于图纹面的照相制版的原版,例如掩膜,光掩膜;其所用空白掩膜或其所用薄膜;其专门适用于此的容器;其制备
G03F1-20 .用于通过带电粒子束(CPB)辐照成像的掩膜或空白掩膜,例如通过电子束;其制备
G03F1-22 .用于通过100nm或更短波长辐照成像的掩膜或空白掩膜,例如 X射线掩膜、深紫外
G03F1-26 .相移掩膜[PSM];PSM空白;其制备
G03F1-36 .具有临近校正特征的掩膜;其制备,例如光学临近校正(OPC)设计工艺
G03F1-38 .具有辅助特征的掩膜,例如用于校准或测试的特殊涂层或标记;其制备
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