[发明专利]太赫兹波段材料复介电常数的测量方法及装置有效
| 申请号： | 202111101704.4 | 申请日： | 2021-09-18 |
| 公开（公告）号： | CN113777411B | 公开（公告）日： | 2023-10-13 |
| 发明（设计）人： | 张振伟;曹吉;贾锐;许靖;潘晓鹏;吴迎红;李春连;张存林 | 申请（专利权）人： | 首都师范大学 |
| 主分类号： | G01R27/26 | 分类号： | G01R27/26 |
| 代理公司： | 北京路浩知识产权代理有限公司 11002 | 代理人： | 李文丽 |
| 地址： | 100048 北*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明提供一种太赫兹波段材料复介电常数的测量方法及装置，包括：将被测样品制备成样品件，根据样品件制备校准件，校准件的厚度大于或等于样品件的厚度；将校准件安装在第二抛物面镜和第三抛物面镜之间，第一太赫兹收发模块向第一抛物面镜发射太赫兹波，第二太赫兹波收发模块向第四抛物面镜发射太赫兹波，通过校准后使得校准件的左右两个侧面为校准面，然后取下校准件；将样品件安装在第二抛物面镜和第三抛物面镜之间，并使得样品件右侧面与右侧校准面对准，第一太赫兹收发模块向第一抛物面镜发射太赫兹波，第二太赫兹收发模块接收到携带样品信息并记录为相应的S参数，通过本文相应的计算方法即可计算出复介电常数。 | ||
| 搜索关键词： | 赫兹 波段 材料 介电常数 测量方法 装置 | ||
【主权项】：
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