[发明专利]一种薄膜封装Test key的制作方法和检测方法有效
| 申请号： | 202111082234.1 | 申请日： | 2021-09-15 |
| 公开（公告）号： | CN113782494B | 公开（公告）日： | 2023-06-20 |
| 发明（设计）人： | 温质康;乔小平;苏智昱 | 申请（专利权）人： | 福建华佳彩有限公司 |
| 主分类号： | H10K71/00 | 分类号： | H10K71/00;H10K71/70;H10K50/844;H01L21/66 |
| 代理公司： | 福州君诚知识产权代理有限公司 35211 | 代理人： | 戴雨君 |
| 地址： | 351100 福*** | 国省代码： | 福建;35 |
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| 摘要： |
本发明公开了一种薄膜封装Test key的制作方法和检测方法，S1：在玻璃基板上制备TFT驱动器，在制备TFT驱动器时，玻璃基板边缘中的衬底层与TFT驱动器中的SiN |
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| 搜索关键词： | 一种 薄膜 封装 test key 制作方法 检测 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
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