[发明专利]一种缺陷检测方法、装置、电子设备及存储介质在审
| 申请号： | 202111045437.3 | 申请日： | 2021-09-07 |
| 公开（公告）号： | CN113763355A | 公开（公告）日： | 2021-12-07 |
| 发明（设计）人： | 张发恩;李锴莹;刁晓淳 | 申请（专利权）人： | 创新奇智（青岛）科技有限公司 |
| 主分类号： | G06T7/00 | 分类号： | G06T7/00;G06T7/11;G06T7/50;G06T7/73 |
| 代理公司： | 北京超凡宏宇专利代理事务所(特殊普通合伙) 11463 | 代理人： | 唐正瑜 |
| 地址： | 266200 山东省青岛市*** | 国省代码： | 山东;37 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本申请提供一种缺陷检测方法、装置、电子设备及存储介质。方法包括：获取待检测对象的待识别图像和深度图像；所述待检测对象在所述待识别图像和所述深度图像中所占的像素点位置相同；将所述待识别图像输入缺陷检测模型中，获得所述缺陷检测模型输出的缺陷区域；根据所述深度图像确定所述缺陷区域中的像素点对应的深度信息；根据所述深度信息获得缺陷检测结果。本申请实施例通过对待检测对象进行图像采集，并对图像进行缺陷识别，在确定缺陷区域后，利用缺陷区域对应的深度图获得深度信息，最后根据深度信息确定是否是目标缺陷。本申请实施例通过对图像进行处理实现缺陷的检测，并结合深度信息确定目标缺陷，提高了检测缺陷的效率。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 缺陷 检测 方法 装置 电子设备 存储 介质 | ||
【主权项】：
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于创新奇智（青岛）科技有限公司，未经创新奇智（青岛）科技有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/202111045437.3/，转载请声明来源钻瓜专利网。
