[发明专利]IGBT参数的测试方法、装置、计算机设备和存储介质在审
| 申请号： | 202111031511.6 | 申请日： | 2021-09-03 |
| 公开（公告）号： | CN113899998A | 公开（公告）日： | 2022-01-07 |
| 发明（设计）人： | 党晓婧;吕启深;陈腾彪;徐曙 | 申请（专利权）人： | 深圳供电局有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/26 | 分类号： | G01R31/26;G01N27/04 |
| 代理公司： | 广州华进联合专利商标代理有限公司 44224 | 代理人： | 梁皓茹 |
| 地址： | 518001 广东省深圳市*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本申请涉及一种IGBT参数的测试方法、装置、计算机设备和存储介质。所述方法包括：从网络分析仪中获取待测IGBT器件的传递参数；其中，所述传递参数为所述网络分析仪采用双端测试的方法对所述待测IGBT器件进行S参数测试得到的；对所述传递参数进行转换，得到所述待测IGBT器件的阻抗参数；根据所述阻抗参数，得到所述待测IGBT器件的杂散参数。采用本方法能够提高得到的待测IGBT器件的杂散参数的准确度。 | ||
| 搜索关键词： | igbt 参数 测试 方法 装置 计算机 设备 存储 介质 | ||
【主权项】：
暂无信息
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