[发明专利]IGBT参数的测试方法、装置、计算机设备和存储介质

权利要求书

1.一种IGBT参数的测试方法，其特征在于，所述方法包括：

从网络分析仪中获取待测IGBT器件的传递参数；其中，所述传递参数为所述网络分析仪采用双端测试的方法对所述待测IGBT器件进行S参数测试得到的；

对所述传递参数进行转换，得到所述待测IGBT器件的阻抗参数；

根据所述阻抗参数，得到所述待测IGBT器件的杂散参数。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述网络分析仪与所述待测IGBT器件通过同轴电缆连接，所述对所述传递参数进行转换，得到所述待测IGBT器件的阻抗参数，包括：

根据所述同轴电缆的特征阻抗值和预设的转换公式，对所述传递参数进行转换，得到所述阻抗参数。

3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述杂散参数包括：电容参数、电感参数和电阻参数。

4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述杂散参数包括电容参数，所述根据所述阻抗参数，得到所述待测IGBT器件的杂散参数，包括：

在所述待测IGBT器件的测试频率小于谐振频率的情况下，通过所述阻抗参数随所述测试频率的变化，得到所述待测IGBT器件的电容参数。

5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述杂散参数包括电感参数，所述根据所述阻抗参数，得到所述待测IGBT器件的杂散参数，包括：

在所述待测IGBT器件的测试频率大于所述谐振频率的情况下，通过所述阻抗参数随所述测试频率的变化，得到所述待测IGBT器件的电感参数。

6.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，所述杂散参数包括电阻参数，所述根据所述阻抗参数，得到所述待测IGBT器件的杂散参数，包括：

在所述待测IGBT器件的测试频率等于所述谐振频率的情况下，通过所述阻抗参数随所述测试频率的变化，得到所述待测IGBT器件的电阻参数。

7.根据权利要求1至6任意一项所述的方法，其特征在于，所述待测IGBT器件的测试频率范围为300KHz-300MHz。

8.一种IGBT参数的测试装置，其特征在于，所述装置包括：

第一获取模块，用于从网络分析仪中获取待测IGBT器件的传递参数；其中，所述传递参数为所述网络分析仪采用双端测试的方法对所述待测IGBT器件进行S参数测试得到的；

转换模块，用于对所述传递参数进行转换，得到所述待测IGBT器件的阻抗参数；

第二获取模块，用于根据所述阻抗参数，得到所述待测IGBT器件的杂散参数。

9.一种计算机设备，包括存储器和处理器，所述存储器存储有计算机程序，其特征在于，所述处理器执行所述计算机程序时实现权利要求1至7中任一项所述的方法的步骤。

10.一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，其特征在于，所述计算机程序被处理器执行时实现权利要求1至7中任一项所述的方法的步骤。