[发明专利]劣化判定方法及劣化判定装置在审
| 申请号： | 202111023852.9 | 申请日： | 2021-09-01 |
| 公开（公告）号： | CN114674849A | 公开（公告）日： | 2022-06-28 |
| 发明（设计）人： | 松花文太;神户悟郎 | 申请（专利权）人： | 株式会社岛津制作所 |
| 主分类号： | G01N23/04 | 分类号： | G01N23/04 |
| 代理公司： | 北京派特恩知识产权代理有限公司 11270 | 代理人： | 薛恒;徐川 |
| 地址： | 日本京都府京都*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本发明的劣化判定方法及劣化判定装置可适当地判定X射线检测器是否发生了劣化。一种劣化判定装置(14)的劣化判定方法，判定工业用X射线摄像装置(1)的X射线检测器(13)的劣化，且所述劣化判定装置(14)的劣化判定方法包括：获取步骤(S101、S103)，获取X射线检测器(13)所生成的拍摄图像(P)；统计处理步骤(S105、S107)，生成拍摄图像(P)的统计处理信息；以及判定步骤(S109～S123)，基于所述统计处理信息，来判定X射线检测器(13)是否发生了劣化。 | ||
| 搜索关键词： | 判定 方法 装置 | ||
【主权项】：
暂无信息
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