[发明专利]劣化判定方法及劣化判定装置

说明书

本发明的劣化判定方法及劣化判定装置可适当地判定X射线检测器是否发生了劣化。一种劣化判定装置(14)的劣化判定方法，判定工业用X射线摄像装置(1)的X射线检测器(13)的劣化，且所述劣化判定装置(14)的劣化判定方法包括：获取步骤(S101、S103)，获取X射线检测器(13)所生成的拍摄图像(P)；统计处理步骤(S105、S107)，生成拍摄图像(P)的统计处理信息；以及判定步骤(S109～S123)，基于所述统计处理信息，来判定X射线检测器(13)是否发生了劣化。

技术领域

本发明涉及一种工业用X射线摄像装置的劣化判定方法及劣化判定装置。

背景技术

已知有一种使用X射线对被摄体的内部结构进行拍摄的X射线摄像装置(例如，参照专利文献1)。

专利文献1中所记载的X射线摄像装置包括：X射线发生器；X射线检测器；以及旋转工作台，配置于X射线发生器与X射线检测器之间，且用来载置被摄体。即，所述X射线摄像装置构成为所谓的“工业用X射线摄像装置”。

另外，所述X射线摄像装置追随获取图像的一个像素尺寸与管电压值的变化来自动调整管电流值。

[现有技术文献]

[专利文献]

[专利文献1]日本专利特开2020-27101号公报

发明内容

[发明所要解决的问题]

然而，在专利文献1中所记载的X射线摄像装置等现有的工业用X射线摄像装置中，从X射线产生器对被摄体照射的X射线能量是基于被摄体的材质、形状及尺寸等而决定。因此，在工业用X射线摄像装置中，与医疗用X射线摄像装置相比，难以适当地推定X射线检测器是否发生了劣化。

因此，在现有的工业用X射线摄像装置中，例如在用户识别出拍摄图像的品质下降的情况下，进行了X射线检测器的更换。其结果，有时工业用X射线摄像装置的用户的便利性降低。

本发明的目的在于提供一种能够适当地判定X射线检测器是否发生了劣化的工业用X射线摄像装置的劣化判定方法及劣化判定装置。

[解决问题的技术手段]

本发明的第一形态的工业用X射线摄像装置的劣化判定方法是判定工业用X射线摄像装置的X射线检测器的劣化的劣化判定装置的劣化判定方法，包括：获取步骤，获取所述X射线检测器所生成的拍摄图像；统计处理步骤，生成所述拍摄图像的统计处理信息；以及判定步骤，基于所述统计处理信息，来判定所述X射线检测器是否发生了劣化。

本发明的第二形态的工业用X射线摄像装置的劣化判定装置判定工业用X射线摄像装置的X射线检测器的劣化，且所述劣化判定装置包括：获取部，获取所述X射线检测器所生成的拍摄图像；统计处理部，生成所述拍摄图像的统计处理信息；以及判定部，基于所述统计处理信息，来判定所述X射线检测器是否发生了劣化。

[发明的效果]

根据本发明的形态的工业用X射线摄像装置的劣化判定方法及劣化判定装置，获取X射线检测器所生成的拍摄图像，生成所获取的拍摄图像的统计处理信息，并基于所生成的统计处理信息，来判定X射线检测器是否发生了劣化。因此，通过适当地设定统计处理信息，可适当地判定X射线检测器是否发生了劣化。

附图说明

图1是表示本实施形态的工业用X射线摄像装置的结构的一例的图。

图2是表示本实施形态的劣化判定装置的结构的一例的图。

图3是表示第二拍摄图像的一例的图。

图4是表示由判定部进行的第一劣化判定方法的图表。

图5是表示由判定部进行的第二劣化判定方法的图表。