[发明专利]劣化判定方法及劣化判定装置

权利要求书

1.一种劣化判定方法，是判定工业用X射线摄像装置的X射线检测器的劣化的劣化判定装置的劣化判定方法，包括：

获取步骤，获取所述X射线检测器所生成的拍摄图像；

统计处理步骤，生成所述拍摄图像的统计处理信息；以及

判定步骤，基于所述统计处理信息，来判定所述X射线检测器是否发生了劣化。

2.根据权利要求1所述的劣化判定方法，其中，

所述工业用X射线摄像装置包括：X射线源；以及载台，配置于所述X射线源与所述X射线检测器之间且载置摄影对象，

所述拍摄图像包括在将所述X射线源关闭的状态下所述X射线检测器所生成的第一拍摄图像、及在将所述X射线源开启且在所述载台上未载置所述摄影对象的状态下所述X射线检测器所生成的第二拍摄图像的至少一者。

3.根据权利要求2所述的劣化判定方法，其中，

所述统计处理信息包括所述第一拍摄图像的亮度的平均值及标准偏差、与所述第二拍摄图像的亮度的平均值及标准偏差中的至少一个。

4.根据权利要求2或3所述的劣化判定方法，其中，

所述统计处理信息为所述第一拍摄图像的亮度的平均值，

在所述判定步骤中，在所述第一拍摄图像的亮度的平均值为第一阈值以上的情况下，判定为所述X射线检测器发生了劣化。

5.根据权利要求2或3所述的劣化判定方法，其中，

所述统计处理信息为表示所述X射线检测器曝光的状态下的所述第一拍摄图像的亮度的平均值相对于所述X射线检测器为初始状态下的所述第一拍摄图像的亮度的平均值的比率的第一比率，

在所述判定步骤中，在所述第一比率为第二阈值以下的情况下，判定为所述X射线检测器发生了劣化。

6.根据权利要求2或3所述的劣化判定方法，其中，

所述统计处理信息为所述第二拍摄图像的亮度的平均值，

在所述判定步骤中，在所述第二拍摄图像的亮度的平均值为第三阈值以下的情况下，判定为所述X射线检测器发生了劣化。

7.根据权利要求2或3所述的劣化判定方法，其中，

所述统计处理信息为所述第一拍摄图像的亮度的标准偏差，

在所述判定步骤中，在所述第一拍摄图像的亮度的标准偏差为第四阈值以上的情况下，判定为所述X射线检测器发生了劣化。

8.根据权利要求2或3所述的劣化判定方法，其中，

所述统计处理信息为所述第二拍摄图像的亮度的标准偏差，

在所述判定步骤中，在所述第二拍摄图像的亮度的标准偏差为第五阈值以上的情况下，判定为所述X射线检测器发生了劣化。

9.根据权利要求2或3所述的劣化判定方法，其中，

所述统计处理信息为表示所述第一拍摄图像的亮度的标准偏差相对于所述第一拍摄图像的亮度的平均值的比率的第二比率，

在所述判定步骤中，在所述第二比率为第六阈值以上的情况下，判定为所述X射线检测器发生了劣化。

10.根据权利要求1至3中任一项所述的劣化判定方法，其中，

在所述统计处理步骤中，生成所述拍摄图像中的一部分图像的统计处理信息。

11.根据权利要求10所述的劣化判定方法，其中，

所述拍摄图像包括在所述拍摄图像的第一方向上排列的多个区域，

所述X射线检测器包括与所述多个区域分别对应的影像传感器，

所述一部分图像在每个所述多个区域中，与和所述第一方向正交的第二方向的一部分区域对应。

12.一种劣化判定装置，判定工业用X射线摄像装置的X射线检测器的劣化，且所述劣化判定装置包括：

获取部，获取所述X射线检测器所生成的拍摄图像；

统计处理部，生成所述拍摄图像的统计处理信息；以及

判定部，基于所述统计处理信息，来判定所述X射线检测器是否发生了劣化。