[发明专利]基于聚合物半导体薄膜的可拉伸X射线光探测器及其制备方法在审

专利信息
申请号: 202110992982.7 申请日: 2021-08-27
公开(公告)号: CN115734623A 公开(公告)日: 2023-03-03
发明(设计)人: 郭云龙;边洋爽;刘凯;冉洋;匡俊华;刘云圻 申请(专利权)人: 中国科学院化学研究所
主分类号: H10K30/65 分类号: H10K30/65;H10K85/10
代理公司: 北京纪凯知识产权代理有限公司 11245 代理人: 吴爱琴
地址: 100190 *** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明公开一种基于聚合物半导体薄膜的可拉伸有机X射线光探测器,具体涉及一种调控聚合物共混薄膜自组装纳米限域的方法,以及基于聚合物的高灵敏直接型可拉伸X射线光探测器。本发明提出一种偏心旋涂诱导共混膜自组装的策略,制备了具有纳米限域的可拉伸聚合物薄膜,实现了光电材料纳米形貌的有效控制。基于此纳米限域的薄膜,所制备的可拉伸X射线光探测器不仅表现出高灵敏、快响应和低剂量的X射线探测能力,且具有高透光率、高可拉伸性和耐疲劳性。同时,本发明具有低成本、大面积、高柔性的独特优势,可直接贴附于生物体的复杂表面或结构,从而在较低辐射剂量和极短时间内获得高清晰的检测结果,在安全检查和精准医疗领域具有重要意义。
搜索关键词: 基于 聚合物 半导体 薄膜 拉伸 射线 探测器 及其 制备 方法
【主权项】:
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