[发明专利]一种微光条件下偏振三维重建方法在审

专利信息
申请号: 202110992336.0 申请日: 2021-08-27
公开(公告)号: CN113706693A 公开(公告)日: 2021-11-26
发明(设计)人: 田昕;肖滢;刘芮;何访 申请(专利权)人: 武汉大学
主分类号: G06T17/00 分类号: G06T17/00
代理公司: 武汉科皓知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 42222 代理人: 王琪
地址: 430072 湖*** 国省代码: 湖北;42
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摘要: 发明提出了一种微光条件下偏振三维重建方法。利用光子计数技术获取微光条件下目标表面的反射光偏振信息,给出初始偏振三维重建结果。接着考虑主动照明激光方向矢量提供的额外阴影约束,对初始重建结果中的法向量方位角误差进行校正,有效解决偏振重建的凹凸性模糊问题。由光子探测半经典理论可以推导出基于泊松分布的光子计数概率模型,因此在利用单光子探测器获取反射光子计数值后可利用该模型将接收光子计数值映射到实际反射光子数值,并用此结果来反映目标表面反射光偏振信息。在方位角的校正过程中则是利用目标反射光非偏振光强,激光方向矢量和目标表面法向量之前存在的联系,对不确定的方位角增加额外约束以达到校正效果。
搜索关键词: 一种 微光 条件下 偏振 三维重建 方法
【主权项】:
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