[发明专利]批量实现电子延期模块老化实验的测试系统及方法在审
| 申请号： | 202110967615.1 | 申请日： | 2021-08-23 |
| 公开（公告）号： | CN113608057A | 公开（公告）日： | 2021-11-05 |
| 发明（设计）人： | 赵先锋;李超飞;孙翼;周旭;张永刚 | 申请（专利权）人： | 无锡盛景微电子股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/00 | 分类号： | G01R31/00;G01R19/00 |
| 代理公司： | 苏州国诚专利代理有限公司 32293 | 代理人： | 顾阳 |
| 地址： | 214028 江苏省无锡市新吴区菱*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明提供了批量实现电子延期模块老化实验的测试系统及方法，其操作简单方便，可批量对电子延期模块进行带电老化测试，从而降低产品的早期失效率，减轻人力工作量，并可实时监测工作状态；批量实现电子延期模块老化实验的测试系统包括老化测试工装，用于对至少一路待测样品施加老化测试条件；采集装置，与所述老化测试工装之间相连接，用于对所述待测样品进行电流采样，并将电流采样测试数据发送至上位机控制装置；上位机控制装置，与所述采集装置之间通信连接，用于发送测试信号指令，接收所述采集装置发送的电流采样测试数据，对测试数据进行存储分析，并对所述待测样品进行实时状态监测。 | ||
| 搜索关键词： | 批量 实现 电子 延期 模块 老化 实验 测试 系统 方法 | ||
【主权项】：
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