[发明专利]批量实现电子延期模块老化实验的测试系统及方法

权利要求书

1.批量实现电子延期模块老化实验的测试系统，其特征在于：包括老化测试工装，用于对至少一路待测样品施加老化测试条件；

采集装置，与所述老化测试工装之间相连接，用于对所述待测样品进行电流采样，并将电流采样测试数据发送至上位机控制装置；

上位机控制装置，与所述采集装置之间通信连接，用于发送测试信号指令，接收所述采集装置发送的电流采样测试数据，对测试数据进行存储分析，并对所述待测样品进行实时状态监测。

2.根据权利要求1所述的批量实现电子延期模块老化实验的测试系统，其特征在于：每路所述待测样品均包括m组电子延期模组，每组所述电子延期模组均包括n个电子延期模块，m组所述电子延期模组并联集成于PCB板上形成所述待测样品，其中m≥1，n≥1。

3.根据权利要求1所述的批量实现电子延期模块老化实验的测试系统，其特征在于：所述老化测试工装包括老化测试板、定位板和限位板，所述老化测试板与限位板、定位板依次从下至上逐层连接后装配于定位治具上，所述定位板上排布有多个定位块，所述定位块上开有安装槽，待测样品均插接在所述安装槽中，所述老化测试板上排布有多个PIN夹，每路所述待测样品对应2个PIN夹，并通过所述PIN夹将所述待测样品接入老化电路中。

4.根据权利要求3所述的批量实现电子延期模块老化实验的测试系统，其特征在于：所述老化测试板上布置有电流采样单元、多路复用单元、电流环调制单元、串并转换单元，所述电流采样单元、多路复用单元、电流环调制单元依次电连接，所述串并转换单元接于所述多路复用单元；所述电流采样单元的数量与所述待测样品的数量相同，且均连接于所述多路复用单元；

其中，所述电流采样单元，用于采集所述待测样品的电流信号；

所述多路复用单元，用于控制选择单个所述待测样品；

所述电流环调制单元，用于对接收的所述待测样品的电流信号实现抗干扰调制；

所述串并转换单元，用于完成串行输入、并行输出的转换，且控制所述多路复用单元。

5.根据权利要求4所述的批量实现电子延期模块老化实验的测试系统，其特征在于：所述采集装置包括电流电压转换单元、控制单元、驱动单元，所述电流环调制单元依次连接所述电流电压转换单元、控制单元，所述控制单元与所述串并转换单元之间连接所述驱动单元；

其中，所述电流电压转换单元，用于对接收的经所述电流环调制单元抗干扰调制的电流信号进行电流电压转换，并将转换后的信号传输给所述控制单元。

6.根据权利要求5所述的批量实现电子延期模块老化实验的测试系统，其特征在于：所述上位机控制装置包括上位机及与所述上位机相连接的显示界面、报警器、数据库，所述上位机控制装置与所述控制单元之间通信连接。

7.批量实现电子延期模块老化实验的测试方法，其特征在于：其包括如权利要求1-6任一项所述的批量实现电子延期模块老化实验的测试系统，测试方法包括以下测试步骤：

S1、将若干个待测样品安装在老化测试工装上，并对所述待测样品进行编号，通过PIN夹将所述待测样品与老化测试板相连接，以接入老化电路中；

S2、将组装好的老化测试工装置于烘箱中，设置一定的老化电压、老化温度和老化时间；

S3、对若干个所述待测样品分别进行电流采样，通过电流电压转换单元将采集到的电流进行转换，并将采集到的数据发送至上位机控制装置；

S4、所述上位机控制装置接收所述采集装置发送的电流采样测试数据，对测试数据进行存储分析，并对所述待测样品进行实时状态监测，进一步地，对于电流测试异常的所述待测样品进行报警提示。

8.根据权利要求7所述的批量实现电子延期模块老化实验的测试方法，其特征在于：设置的老化电压为15-30V，老化温度为60-105℃，老化时间为2-10h。