[发明专利]批量实现电子延期模块老化实验的测试系统及方法

说明书

本发明提供了批量实现电子延期模块老化实验的测试系统及方法，其操作简单方便，可批量对电子延期模块进行带电老化测试，从而降低产品的早期失效率，减轻人力工作量，并可实时监测工作状态；批量实现电子延期模块老化实验的测试系统包括老化测试工装，用于对至少一路待测样品施加老化测试条件；采集装置，与所述老化测试工装之间相连接，用于对所述待测样品进行电流采样，并将电流采样测试数据发送至上位机控制装置；上位机控制装置，与所述采集装置之间通信连接，用于发送测试信号指令，接收所述采集装置发送的电流采样测试数据，对测试数据进行存储分析，并对所述待测样品进行实时状态监测。

技术领域

本发明涉及电子延期模块老化实验技术领域，具体为批量实现电子延期模块老化实验的测试系统及方法。

背景技术

随着工程爆破技术的发展，爆破工程要求越来越高，电子雷管在爆破过程中的应用也越来越普遍，电子延期模块作为电子雷管的关键元件，在实际的工程应用中可能存在短路、断路、拒爆、早爆等失效的情况，则一旦电子延期模块发生失效，将会引起重大安全事故，因此保证电子延期模块工作过程中的可靠性，有效评估电子延期模块的健康状态至关重要。

一个电子延期模块电路板上有数百颗电子元器件，在批量化生产中，这些电子元器件的焊接均由贴片机完成，但由于制程控制、工艺控制、设备差异等因素，不可避免的会有一定比例的贴片不良，这部分贴片不良的产品将会在老化工序中暴露出来，同时由于制作模块的来料中也会存在一部分的不良，有的不良并不会导致电子延期模块立即失效，而是在短时间上电使用后出现失效，这部分的不良也将在老化工序中暴露出来；其中，失效率也随使用时间变化分为三个阶段：早期失效期、偶然失效期和耗损失效期，而通过增加老化实验，可将早期失效筛选出来，使产品的缺陷在出厂前暴露出来并进行弥补，减少产品的返修率，这一阶段失效的原因大多是由于设计、原材料和制造过程中的缺陷造成的，因此在电子延期模块生产中增加老化实验是非常重要的一道工序，通过这种方式筛除早期失效可达到可靠性的目的。

目前模块老化装置普遍采用老化房或老化柜进行老化，由于温度控制不均匀，热流不能循环利用，还需要人工逐个对电子延期模块安装实验，工作量较大，极大影响了电子产品的老化效果，且浪费资源，以及自动化程度低，仅对模块进行上电老化，并无监控功能，不能实时获取模块的工作状态，造成人力资源的巨大浪费。

发明内容

针对上述问题，本发明提供了批量实现电子延期模块老化实验的测试系统及方法，其操作简单方便，可批量对电子延期模块进行带电老化测试，从而降低产品的早期失效率，减轻人力工作量，并可实时监测工作状态。

其技术方案是这样的：

批量实现电子延期模块老化实验的测试系统，其特征在于：包括老化测试工装，用于对至少一路待测样品施加老化测试条件；

采集装置，与所述老化测试工装之间相连接，用于对所述待测样品进行电流采样，并将电流采样测试数据发送至上位机控制装置；

上位机控制装置，与所述采集装置之间通信连接，用于发送测试信号指令，接收所述采集装置发送的电流采样测试数据，对测试数据进行存储分析，并对所述待测样品进行实时状态监测。

进一步地，每路所述待测样品均包括m组电子延期模组，每组所述电子延期模组均包括n个电子延期模块，m组所述电子延期模组并联集成于PCB板上形成所述待测样品，其中m≥1，n≥1；

进一步地，所述老化测试工装包括老化测试板、定位板和限位板，所述老化测试板与限位板、定位板依次从下至上逐层连接后装配于定位治具上，所述定位板上排布有多个定位块，所述定位块上开有安装槽，待测样品均插接在所述安装槽中，所述老化测试板上排布有多个PIN夹，每路所述待测样品对应2个PIN夹，并通过所述PIN夹将所述待测样品接入老化电路中；